Przedstawiono zagadnienia związane z konstrukcją systmów do pomiaru szumów m.cz. analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Przytoczono typowe parametry opisujące właściwości sygnałów szumowych, które mogą być stosowane do analizy szumów własnych analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Określono warunki pomiarów szumów własnych z zakresu małych częstotliwości analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Dokonano podziału systemów...

W artykule zostanie zaprezentowany opis systemu pomiarowego zawierającego zaprojektowaną głowicę pomiarową do pomiarów szumów generowanych przez elementy optoelektroniczne. Przedstawione zostaną wyniki testów funkcjonowania systemu pomiarowego dla diod LED dla prądu wynoszącego ID = 2 mA. Pomiar odbywał się w zakresie małych częstotliwości czyli do 1 kHz. Głowica pomiarowa została zbudowana w sposób minimalizujący wpływ zakłóceń zewnętrznych...

Znajomość właściwości szumowych elementów elektronicznych w zakresie małych częstotliwości, gdzie dominują szumy o widmie typu 1/f, stanowi efektywne narzędzie oceny jakości procesu technologicznego wytwarzania tych elementów oraz predykcji ich niezawodności. Przeprowadzenie dokładnych pomiarów parametrów i charakterystyk szumowych stwarza jednak często wiele problemów.

Przedstawiono schemat blokowy systemu do pomiaru szumów z zakresu małych częstotliwości przyrządów półprzewodnikowych. Opisano najważniejsze podzespoły takiego systemu oraz ich wpływ na wyniki pomiaru szumów.

W artykule opisano zaprojektowany i wykonany system do identyfikacji szumów wybuchowych (RTS – Random Telegraph Signal) występujących w transoptorach typu CNY17. Z metod umożliwiających ocenę parametrów szumów wybuchowych wybrano do realizacji metodę Wzorów Obrazów Szumów – WOS (ang. Noise Scattering Patterns – NSP), która w sposób bardzo prosty pozwala na rozpoznawanie szumów o rozkładach wartości chwilowych gaussowskich i niegaussowskich....