Przedstawiono wyniki badań docierania powierzchni płaskich na docierarce jednotarczowej. Praca stanowi wstęp do badań zagadnienia wzrostu temperatury elementów układu wykonawczego obrabiarki. Eksperymenty przeprowadzono na docierarce jednotarczowej ABRALAP 380 przy użyciu kamery termowizyjnej MICRO-EPSILON/TM 160.

Przedstawiono wyniki badań własnych wpływu parametrów obróbki na wzrost temperatury docieraka żeliwnego. Badano docieranie powierzchni płaskich na docierarce jednotarczowej. Określono wpływ nacisku jednostkowego i wielkości mikroziaren węglika krzemu i węglika boru na przyrost temperatury maksymalnej po 180 i 300 min. obróbki. Przeprowadzono analizę statystyczną wyników badań i określono współczynniki istotności F.

Przedstawiono wyniki badań własnych wpływu parametrów obróbki na wzrost temperatury docieraka żeliwnego. Badano docieranie powierzchni płaskich na docierarce jednotarczowej. Określono wpływ nacisku jednostkowego i wielkości mikroziaren węglika krzemu i węglika boru na przyrost temperatury maksymalnej po 180 i 300 min. obróbki. Przeprowadzono analizę statystyczną wynikow badań i określono współczynniki istotności F.

Przedstawiono analizę temperatury elementów układu wykonawczego docierarki jednotarczowej przy użyciu kamery termowizyjnej. W badaniach stosowano różne wartości prędkości obrotowej tarczy docierającej oraz dwa zakresy ziarnistości mikroziaren ściernych w dozowanej paście. Obrabiano elementy płaskie wykonane ze stali chromowo - niklowej oraz brązu berylowego.

W artykule zaprezentowano miernik parametrów impedancyjnych oparty na układzie typu ''programmable system On a Chip'' firmy Cypress. Zawiera on w sobie mikroprocesor oraz reprogramowalne bloki analogowe i cyfrowe. Do budowy modelu wykorzystano układ CY8C26443, w którym zaimplementowano metodę pomiaru opartą na dyskretnym przekształceniu Fouriera pozwalającą, na podstawie zebranych próbek napięcia i prądu, wyznaczyć składowe Re...