Filtry
wszystkich: 14
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (13)
Wyniki wyszukiwania dla: USZKODZENIA PARAMETRYCZNE
-
Katedra Siłowni Morskich i Lądowych
Potencjał BadawczyKatedra prowadzi prace badawcze dotyczące projektowania siłowni okrętowych oraz ich systemów. Działalność ta obejmuje: projektowania siłowni okrętowych z uwzględnieniem niezawodności, diagnostyki i bezpieczeństwa ich funkcjonowania oraz decyzyjnego sterowania procesem eksploatacji okrętowych silników spalinowych z uwzględnieniem wybranych kryteriów optymalizacji.
-
Katedra Budownictwa i Inżynierii Materiałowej
Potencjał Badawczy* budownictwo ogólne i przemysłowe * materiały budowlane, chemia budowlana * konstrukcje drewniane i zespolone * remonty i modernizacje konstrukcji budowlanych oraz fizyka budowli
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (1)
Wyniki wyszukiwania dla: USZKODZENIA PARAMETRYCZNE
-
Laboratorium Diagnostyki Silników i Sprężarek Tłokowych
Oferta BiznesowaIdentyfikacja stanu technicznego głównych układów funkcjonalnych silników spalinowych i sprężarek w oparciu o wyniki badań diagnostycznych.
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (8)
Wyniki wyszukiwania dla: USZKODZENIA PARAMETRYCZNE
-
A neural network based system for soft fault diagnosis in electronic circuits
PublikacjaW artykule przedstawiono system do diagnostyki uszkodzeń parametrycznych w układach elektronicznych. W systemie zaimplementowano słownikową metodę lokalizacji uszkodzeń, bazującą na pomiarach w dziedzinie częstotliwości przeprowadzanych za pomocą analizatora transmitancji HP4192A. Rozważono główne etapy projektowania systemu: definiowanie modelu uszkodzeń, wybór optymalnych częstotliwosci pomiarowych, ekstrakcję cech diagnostycznych,...
-
Testowanie i diagnostyka układów w pełni różnicowych
PublikacjaZaproponowano tester wbudowany realizujący nowe podejście do testowania układów w pełni różnicowych, polegające na pobudzaniu układu sygnałem wspólnym i pomiarze wyjściowego napięcia różnicowego. Tester wykrywa uszkodzenia parametryczne i strukturalne, które powodują zaburzenie symetrii układu i w rezultacie wzrost wartości napięcia różnicowego. Przeprowadzono analizę właściwości diagnostycznych funkcji układowej, na której bazuje...
-
Diagnostyka uszkodzeń analogowych we wbudowanych systemach elektronicznych z wykorzystaniem interpretera logiki rozmytej
PublikacjaPrzedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego w systemie wbudowanym sterowanym mikrokontrolerem. Podejście to bazuje na metodzie detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych elementów pasywnych w układach analogowych. W etapie pomiarowym badany tor analogowy pobudzany jest okresowym przebiegiem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez...
-
Odporne na wpływ tolerancji, słownikowe metody diagnostyki uszkodzeń układów elektronicznych ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym
PublikacjaW pracy przedstawiono nową klasę słownikowych metod diagnostyki uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych, ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu. Wykorzystano koncepcję polegającą na konstrukcji sygnatur słownika uszkodzeń w postaci krzywych identyfikacyjnych i zastosowaniu klasyfikatorów neuronowych dobrze dopasowanych do tych sygnatur. W pierwszej...
-
Specjalizowane sieci neuronowe z Dwucentrowymi Funkcjami Bazowymi do zastosowań w testerach wbudowanych μBIST
PublikacjaPrzedmiotem artykułu są nowe, przydatne do zastosowań w testerach wbudowanych BIST, specjalizowane sieci neuronowe do lokalizacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych, o podwyższonej odporności na maskujący wpływ rozrzutów tolerancyjnych elementów nieuszkodzonych. Sieci opracowane zostały w dwóch wariantach: z Dwucentrowymi Radialnymi (DRB) oraz Elipsoidalnymi (DEB) funkcjami Bazowymi. Dzięki wydłużonym...