Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 38
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (33)
Wyniki wyszukiwania dla: VAN DER WAALS FORCES
-
Zespół Katedry Wytrzymałości Materiałów
Potencjał BadawczyKatedra zajmuje się zagadnieniami związanymi z wytrzymałością elementów konstrukcji, ich teorią oraz analizą, jak również do myśli przewodnich należy zaliczyć materiałowe badania doświadczalne oraz prace nad technologią betonu. Współpracujemy z przemysłem z branż budowlanych i okołobudowlanych, wykorzystując wypracowane doświadczenie i wiedzę z zakresu materiałów konstrukcyjnych i budowlanych.
-
KatedrA Chemii Fizycznej
Potencjał Badawczy1.Termodynamika i struktura roztworów, oddziaływania międzycząsteczkowe w roztworach - badania termodynamiczne, spektroskopowe i teoretyczne. 2. Fizykochemiczne podstawy analizy środowiskowej.
-
Katedra Chemii Nieorganicznej
Potencjał Badawczy* Opracowanie nowych metod syntezy nieorganicznej, odkrycie nowych typów reaktywności oraz katalizatorów użytecznych w ważnych procesach chemicznych. Badania koncentrują się wokół chemii kompleksów metali przejściowych z ligandami P-donorowymi oraz chemii pierwiastków grup głównych ze szczególnym uwzględnieniem fosforu i boru – aktualne kierunki badań: -reaktywne związki niskowalencyjnego fosforu – podobnie jak kompleksy karbenowe...
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (5)
Wyniki wyszukiwania dla: VAN DER WAALS FORCES
-
Laboratorium Materiałów Polimerowych
Oferta BiznesowaLaboratorium jest wyposażone w:; • plastometr do badań wskaźnika szybkości płynięcia uplastycznionego tworzywa, ; • młot do badań udarności materiałów, ; • wtryskarkę hydrauliczną z urządzeniami peryferyjnymi wymaganymi do uruchomienia produkcji znormalizowanych próbek do badań wytrzymałościowych,; • zestaw urządzeń przetwórczo - pomiarowych;
-
Laboratorium Nanomateriałów CZT
Oferta BiznesowaBadanie właściwość powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych
-
Laboratorium Badań Terenowych
Oferta Biznesowadiagnostyka obiektów mostowych i inżynierskich: badania in situ, próbne obciążenia, monitoring i identyfikacja konstrukcji, zaawansowane analizy teoretyczne i obliczeniowe
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (80)
Wyniki wyszukiwania dla: VAN DER WAALS FORCES
-
Low-frequency noise in ZrS3 van der Waals semiconductor nanoribbons
PublikacjaWe report the results of the investigation of low-frequency electronic noise in ZrS3 van der Waals semiconductor nanoribbons. The test structures were of the back-gated field-effect-transistor type with a normally off n-channel and an on-to-off ratio of up to four orders of magnitude. The current–voltage transfer characteristics revealed significant hysteresis owing to the presence of deep levels. The noise in ZrS3 nanoribbons...
-
Mechanical analysis of eccentric defected bilayer graphene sheets considering the van der Waals force
PublikacjaIn this article, we have tried to simulate nonlinear bending analysis of a double-layered graphene sheet which contains a geometrical imperfection based on an eccentric hole. The first-order shear deformation theory is considered to obtain the governing equations. Also, the nonlinear von Kármán strain field has been assumed in order to obtain large deformations. Whereas the double-layered graphene sheet has been considered, the...
-
Thermal Buckling Analysis of Circular Bilayer Graphene sheets Resting on an Elastic Matrix Based on Nonlocal Continuum Mechanics
PublikacjaIn this article, the thermal buckling behavior of orthotropic circular bilayer graphene sheets embedded in the Winkler–Pasternak elastic medium is scrutinized. Using the nonlocal elasticity theory, the bilayer graphene sheets are modeled as a nonlocal double–layered plate that contains small scale effects and van der Waals (vdW) interaction forces. The vdW interaction forces between the layers are simulated as a set of linear springs...
-
Amplitude-distance spectroscopy in semi-contact mode
Dane BadawczeSince it was invented by Binnig et al. in 1986, atomic force microscopy (AFM) plays a key role in science and technology at the nanoscale. AFM is a microscopic technique that visualizes the surface topography using the attractive and repulsive forces of interaction between several atoms (in theory) of a blade attached to the end of the probe lever and...
-
Enhancement of the Magnetic Coupling in Exfoliated CrCl 3 Crystals Observed by Low‐Temperature Magnetic Force Microscopy and X‐ray Magnetic Circular Dichroism
PublikacjaMagnetic crystals formed by 2D layers interacting by weak van der Waals forces are currently a hot research topic. When these crystals are thinned to nanometric size, they can manifest strikingly different magnetic behavior compared to the bulk form. This can be the result of, for example, quantum electronic confinement effects, the presence of defects, or pinning of the crystallographic structure in metastable phases induced by...