Zespół Metrologii i Optoelektroniki

* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR

Katedra Aparatury i Maszynoznawstwa Chemicznego

* zasobów, możliwości pozyskania, konwersji, magazynowania i transportu energii ze źródeł odnawialnych, w tym energii słonecznej i biopaliw * możliwości odzyskiwania energii odpadowej w procesach przemysłowych i sposoby jej zagospodarowania * opracowanie procesów technologicznych recyklingu materiałowego zużytych modułów i ogniw fotowoltaicznych * opracowanie procesów technologicznych recyklingu materiałowego zużytych opon samochodowych *...

Zespół Katedry Automatyki

Mikroprocesorowe urządzenia pomiarowo-rejestrujące i systemy monitorowania wykorzystujące technologie sieciowe, systemy sterowania urządzeniami i procesami technologicznymi. Systemy sterowania w obiektach energetyki odnawialnej, skupionych i rozproszonych. Modelowanie i symulacja obiektów dynamicznych, procesów oraz systemów sterowania i kontroli; projektowanie interfejsów operatorskich. Systemy elektroenergetyczne i automatyki...

Laboratorium Źródeł Energii w Katedrze Konwersji i Magazynowania Energii

Laboratorium Konstrukcji Oceanotechnicznych

Badania mechaniczne, badania zmęczeniowe, badania metalograficzne, badania całych węzłów konstrukcyjnych, pomiary wytężenia rzeczywistych konstrukcji

Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii

Stanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...

Sposób pomiaru współczynnika załamania oraz charakterystyki dyspersyjnej, zwłaszcza cieczy

Zestaw do pomiaru współczynnika załamania oraz charakterystyki dyspersji, zwłaszcza cieczy