Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 8
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (6)
Wyniki wyszukiwania dla: charakterystyka widmowa
-
Zespół Systemów Multimedialnych
Potencjał Badawczy* technologie archiwizacji, rekonstrukcji i dostępu do nagrań archiwalnych * technologie inteligentnego monitoringu wizyjnego i akustycznego * multimedialne technologie telemedyczne * multimodalne interfejsy komputerowe
-
Zespół Systemów Multimedialnych
Potencjał Badawczy* technologie archiwizacji, rekonstrukcji i dostępu do nagrań archiwalnych * technologie inteligentnego monitoringu wizyjnego i akustycznego * multimedialne technologie telemedyczne * multimodalne interfejsy komputerowe
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (2)
Wyniki wyszukiwania dla: charakterystyka widmowa
-
Laboratorium Fizyki i Elektrodynamiki
Oferta BiznesowaPodstawowe zjawiska fizyczne i informatyczne systemy rozproszone
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Oferta BiznesowaStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (3)
Wyniki wyszukiwania dla: charakterystyka widmowa
-
The new type of [Zr6(μ3-O)4 (μ3-OH)4] cluster core: Crystal structure and spectral characterization of [Zr6O4(OH)4(OOCR)12] (R = Bu^t^,C(CH3)2Et)
PublikacjaSześciojądrowe oxo karboksylowe kompleksy cyrkonu(IV) zostały otrzymane z Zr(OR')4 i odpowiednich kwasów organicznych HOOCR (R=t-Bu, CMe2Et) w stosunku molowym 1:2. Struktury krystaliczne dwóch związków o wzorze [Zr6O4(OH)4(OOCR)12] (1 dla R=t-Bu i 2 dla R=-CMe2Et) zostały rozwiązane w grupie przestrzennej R-3. Substancje zostały przebadane termograwimetrycznie (TGA/DTA) oraz przy użyciu spektroskopii w podczerwieni ze zmienną...
-
Measurement of selected characteristics of low-coherence optical signal sources for optical coherence tomography
PublikacjaOCT to nowa metoda badania wewnętrznych struktur materiałów. Wśród wielu technik detekcji sygnału optycznego wykorzystywanych w OCT najpopularniejszą i najbardziej obiecującą jest OLCR (Opticla-Low Coherence Reflectomerty - reflektometria niskokoherentna). OLCR wykorzystuje szerokopasmowe źródła, których parametry, jak np.: charakterystyka widmowa, charakterystyka szumowa, determinują właściwości metrologiczne systemu OCT. W artykule...
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
LaboratoriaStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...