Filtry
wszystkich: 80
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (62)
Wyniki wyszukiwania dla: diagnostyka ukladow elektronicznych
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Katedra Metrologii i Systemów Informacyjnych
Potencjał Badawczy* Diagnostyka silników elektrycznych i magnesów nadprzewodzących * Metody pomiaru impedancji zwarciowej * Zastosowania modulowanych częstotliwościowo sygnałów impulsowych * Pomiary dla diagnostyki medycznej * Ocena niepewności pomiaru * Zastosowanie grafenu do wykrywania elektronicznego
-
Katedra Inżynierii Elektrycznej Transportu
Potencjał Badawczy* Diagnostyka techniczna i monitoring w systemach transportu zelektryfikowanego * Metody diagnostyki technicznej i monitoringu odbieraków prądu oraz górnej sieci trakcyjnej, w szczególności metody wizyjne * Modele matematyczne i symulacyjne odbieraków prądu i górnej sieci trakcyjnej * Modelowanie i analiza elektrotrakcyjnych układów zasilania * Modelowanie i sterowanie napędami elektrycznymi pojazdów * Redukcja zużycia energii...
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (18)
Wyniki wyszukiwania dla: diagnostyka ukladow elektronicznych
-
Laboratorium Wysokich Napięć
Oferta BiznesowaBadania układów probierczych i pomiarowych stosowanych w technice wysokiego napięcia
-
Laboratorium Badań Terenowych
Oferta Biznesowadiagnostyka obiektów mostowych i inżynierskich: badania in situ, próbne obciążenia, monitoring i identyfikacja konstrukcji, zaawansowane analizy teoretyczne i obliczeniowe
-
Laboratorium Inteligentnej Energetyki LAB-6
Oferta BiznesowaKompatybilność elektromagnetyczna urządzeń elektrycznych i elektronicznych, jakość energii, efektywność energetyczne, bezpieczeństwo użytkowania urządzeń, badania instalacji elektrycznych niskiego napięcia.
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (689)
Wyniki wyszukiwania dla: diagnostyka ukladow elektronicznych
-
Diagnostyka układów elektronicznych z magistralą testującą
PublikacjaWzrost złożoności i miniaturyzacji układów oraz urządzeń elektronicznych, przyczyniając się do polepszenia ich parametrów użytkowych i obniżania kosztów wytwarzania, wiąże się z niepożądanymi efektami ubocznymi, takimi jak wzrost kosztów aparatury pomiarowo-kontrolnej oraz wzrost pracochłonności, związanej z opracowaniem metod i programów testujących. Problemy te są inspiracją do rozwinięcia metod projektowania tzw. testowalnych...
-
Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących
PublikacjaPrzedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto...
-
Diagnostyka uszkodzeń analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem specjalizowanej sieci neuronowej
PublikacjaNa tle trendów rozwojowych diagnostyki analogowych układów elektronicznych AEC (Analog Electronic Circuits), przedstawiono nową metodę diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych, ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu i niepewności pomiaru. Zastosowano specjalizowaną sieć neuronową z dwucentrowymi funkcjami bazowymi TCRBF (Two-center Radial Basis Function),...
-
Diagnostyka uszkodzeń analogowych we wbudowanych systemach elektronicznych z wykorzystaniem interpretera logiki rozmytej
PublikacjaPrzedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego w systemie wbudowanym sterowanym mikrokontrolerem. Podejście to bazuje na metodzie detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych elementów pasywnych w układach analogowych. W etapie pomiarowym badany tor analogowy pobudzany jest okresowym przebiegiem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez...
-
Projektowanie układów elektronicznych - 2022
Kursy OnlineEiT, I st., sem. 7, Opto Kierunek: Elektronika i telekomunikacja Studia inżynierskie (I stopnia)Profil: OptoelektronikaRok 4Semestr 7