Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 2
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (2)
Wyniki wyszukiwania dla: emulator uszkodzen
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Katedry Konstrukcji Betonowych
Potencjał BadawczyZagadnienia badawcze realizowane w Katedrze Konstrukcji Betonowych obejmują głównie tematykę zjawisk zachodzących w betonie i stali oraz mechanizmów pracy elementów i konstrukcji żelbetowych. Dzięki odpowiednio wyposażonemu laboratorium Katedra posiada możliwość prowadzenia badań elementów konstrukcyjnych oraz materiałów budowlanych. Pracownicy Katedry posiadają szeroką wiedzę i doświadczenie dotyczące konstrukcji budowlanych,...
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (2)
Wyniki wyszukiwania dla: emulator uszkodzen
-
Emulator analogowych uszkodzeń parametrycznych
PublikacjaW artykule przedstawiono emulator uszkodzeń analogowych bazujący na mikrosystemie jednoukładowym. Użycie struktur programowalnych znacznie ułatwia wprowadzanie uszkodzeń parametrycznych pojedynczych i wielokrotnych w szerokim zakresie zmian wartości parametrów. Urządzenie służy do wspomagania badań w zakresie testowania zorientowanego na uszkodzenia. Mechanizm dynamicznej rekonfiguracji układu obniża koszty i przyspiesza eksperymentalną...
-
Emulator analogowych uszkodzeń parametrycznych w programowalnym systemie jednoukładowym
PublikacjaW referacie przedstawiono emulator uszkodzeń analogowych bazujacy na mikrosystemie jednoukładowym. Użycie struktur programowalnych znacznie ułatwia wprowadzanie uszkodzeń parametrycznych pojedynczych i wielokrotnych w szerokim zakresie zmian wartości parametrów. Urzadzenie służy do wspomagania badań w zakresie testowania zorientowanego na uszkodzenia. Mechanizm dynamicznej rekonfiguracji układu obniża koszty i przyspiesza eksperymentalną...