Wyniki wyszukiwania dla: metrology - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Wyniki wyszukiwania dla: metrology

Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (6)

Wyniki wyszukiwania dla: metrology

Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (5)

Wyniki wyszukiwania dla: metrology

Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (199)

Wyniki wyszukiwania dla: metrology

  • Metrology and Measurement Systems

    Czasopisma

    ISSN: 0860-8229 , eISSN: 2300-1941

  • Quantum metrology: Heisenberg limit with bound entanglement

    Publikacja

    - PHYSICAL REVIEW A - Rok 2015

    Quantum entanglement may provide a huge boost in the precision of parameter estimation. However, quantum metrology seems to be extremely sensitive to noise in the probe state. There is an important still open question: What type of entanglement is useful as a resource in quantum metrology? Here we raise this question in relation to entanglement distillation. We provide a counterintuitive example of a family of bound entangled states...

    Pełny tekst do pobrania w portalu

  • Optical metrology for high fidelity LCD-TV

    Publikacja

    - Rok 2005

    W pracy przedstawiono aktualny stan metrologii optycznej wyświetlaczy ciekłokrystalicznych (LCD) i omówiono niedoskonałości obecnych technik pomiarowych występujące w charakteryzacji wyświetlaczy o wysokiej wierności odwzorowania. Zaprezentowano urządzenia, procedury pomiarowe i metody obróbki danych umożliwiajace obiektywną ocenę właściwości ciekłokrystalicznych odbiorników telewizyjnych.Metody te umożliwiają identyfikację artefaktów...

  • Computer-assisted assessment of learning outcomes in the laboratory of metrology

    Publikacja

    - Rok 2015

    In the paper, didactic experience with broad and rapid continuous assessment of students’ knowledge, skills and competencies in the Laboratory of Metrology, which is an example of utilisation of assessment for learning, is presented. A learning management system was designed for manage, tracking, reporting of learning program and assessing learning outcomes. It has ability to provide with immediate feedback, which is used by the...

  • Nanomanufacturing and Metrology

    Czasopisma

    ISSN: 2520-811X , eISSN: 2520-8128