Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 111
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (85)
Wyniki wyszukiwania dla: pomiary elementow rlc
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Teleinformatyki
Potencjał BadawczyDziałalność dydaktyczna katedry związana jest z teorią informacji, metodami probabilistycznymi, statystyką matematyczną oraz szeroką gamą przedmiotów z obszaru organizacji pracy , oceny wydajności, zarządzania i projektowania sieci komputerowych. Katedra prowadzi w tym obszarze specjalność Sieci Komputerowe - oferowaną dla studentów kierunku Informatyka.* projektowania i oceny efektywności przewodowych i bezprzewodowych sieci LAN,...
-
Katedra Metrologii i Systemów Informacyjnych
Potencjał Badawczy* Diagnostyka silników elektrycznych i magnesów nadprzewodzących * Metody pomiaru impedancji zwarciowej * Zastosowania modulowanych częstotliwościowo sygnałów impulsowych * Pomiary dla diagnostyki medycznej * Ocena niepewności pomiaru * Zastosowanie grafenu do wykrywania elektronicznego
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (26)
Wyniki wyszukiwania dla: pomiary elementow rlc
-
Pracownia Fotogrametrii i Teledetekcji Niskiego Pułapu
Oferta BiznesowaW pracowni prowadzone są badania naukowe oraz zajęcia dydaktyczne z zakresu fotogrametrii cyfrowej i teledetekcji, szczególnie z niskiego pułapu czyli z bezzałogowych statków powietrznych. W ramach działań pracowni prowadzone są pomiary terenowe z użyciem nowoczesnych technik pomiarowych i bezzałogowych statków powietrznych, szkolenie lotnicze operatorów bezzałogowych statków powietrznych. Prace kameralne realizowane są na nowoczesnym...
-
Piotr Grudowski
Oferta BiznesowaPomiary długości i kąta, pomiary wielkości elektrycznych Testowanie elementów mechatronicznych
-
Laboratorium Konstrukcji Oceanotechnicznych
Oferta BiznesowaBadania mechaniczne, badania zmęczeniowe, badania metalograficzne, badania całych węzłów konstrukcyjnych, pomiary wytężenia rzeczywistych konstrukcji
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (854)
Wyniki wyszukiwania dla: pomiary elementow rlc
-
Pomiary interkonektów typu RLC na pakietach elektronicznych z wykorzystaniem magistrali mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4
PublikacjaPrzedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto pierwszych komercyjnych układów scalonych STA400 wyposażonych w magistralę, opracowanych w firmie National Semoconductor i Logic Vision. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4 oraz nowoopracowanymi...
-
Ograniczenia wirtualnego miernika RLC zrealizowanego na układzie AD5933
PublikacjaW artykule przedstawiono wirtualny miernik elementów RLC, zrealizowany w oparciu o mikrosystem AD5933. Mikrosystem wyznacza parametry impedancyjne elementów mierzonych, wykorzystując CPS do obliczenia składowych ortogonalnych sygnałów pomiarowych. Przeprowadzone badania mikrosystemu, w konfiguracji zalecanej przez producenta, wykazały niekorzystny wpływ jego rezystancji wyjściowej na błąd pomiaru impedancji. Dlatego opracowano...
-
Ograniczenia wirtualnego miernika impedancji opartego na karcie akwizycji danych
PublikacjaW artykule przedstawiono wirtualny miernik parametrów elementów RLC, zrealizowany w oparciu o komputer PC z zainstalowana kartą akwizycji danych(PCI-6040E) wyposażoną w przetworniki a/c i c/a. Analizowano właściwości metrologiczne miernika zależne od parametrów zastosowanej karty. Przeprowadzono badania symulacyjne błędu pomiaru pojemności uwzględniajace rozdzielczośc i częstotliwośc próbkowania przetwornika a/c oraz jego czas...
-
Pomiary Automatyka Robotyka
Czasopisma -
Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących
PublikacjaPrzedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto...