Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 3
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (3)
Wyniki wyszukiwania dla: szumy elektryczne
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Katedra Metrologii i Systemów Informacyjnych
Potencjał Badawczy* Diagnostyka silników elektrycznych i magnesów nadprzewodzących * Metody pomiaru impedancji zwarciowej * Zastosowania modulowanych częstotliwościowo sygnałów impulsowych * Pomiary dla diagnostyki medycznej * Ocena niepewności pomiaru * Zastosowanie grafenu do wykrywania elektronicznego
-
Zespół Systemów Mikroelektronicznych
Potencjał Badawczy* projektowania I optymalizacji układów i systemów mikroelektronicznych * zaawansowane metody projektowania i optymalizacji analogowych filtrów aktywnych * programowanie układów scalonych (FPGA, CPLD, SPLD, FPAA) * układy specjalizowane ASIC * synteza systemów o małym poborze mocy * projektowanie topografii układów i zagadnień kompatybilności elektromagnetycznej * modelowania przyrządów półprzewodnikowych * modelowania właściwości...
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (6)
Wyniki wyszukiwania dla: szumy elektryczne
-
Przewodnictwo elektryczne i szumy w warstwach poliacenów
Publikacja -
f-γ current fluctations in organic semiconductors: evidence for percolation
PublikacjaSzumowe spektra o nachyleniu f-γ były obserwowane w organicznych półprzewodnikach i interpretowane przy pomocy hoppingowego modelu szumów. S(f) spektra wykazywały max w regionie wypełniania się pułapek nośników ładunku. W tym artykule dyskutujemy warunki określające poszczególne rodzaje SCLC transportu. Model perkolacyjny został użyty do opisu przejść pomiędzy fazą izolatora a przewodnika, gdzie małe zmiany przełożonego napięcia...
-
Low frequency noise measurements in advanced silocon devices.**2003, 136 s.116 rys. bibliogr. 29 poz. maszyn. Pomiary małoczęstotliwościowych szumów zaawansowanych elementów krzemowych. Rozprawa doktorska /15.04.2003./ Inst. Natl. P. Grenoble Promotorzy: prof. dr hab. inż. L. Spiralski, dr CNRS G. Ghibaudo.
PublikacjaW pracy przedstawiono automatyczny system do pomiarów małoczęstotliwoscio-wych szumów struktur elementów półprzewodnikowych. System umożliwia automa-tyczne wyznaczanie charakterystyk stałoprądowych badanego elementu, pomiarszumów i wyznaczanie gęstości widmowej mocy w zadanym zakresie polaryzacji.Przytoczono wyniki przeprowadzonych testów systemu. Ważną składową pracy wy-niki pomiarów szumów tranzystorów MOS i bipolarnych...
-
Optoelectronic properties of the metal-tetracene interface investigated by current noise measurement under monochromatic irradiation.
PublikacjaZaprezentowano badania prądów ograniczonych elektrodowo w warstwach tetracenu. Szczególną uwagę zwrócono na zależność szumów elektrycznych od przyłożonego napięcia i padającego światła.
-
Space-charge-limited current fluctuations in organic semiconductors
PublikacjaBadania szumów elektrycznych w zakresie niskich częstotliwości, w regionie prĄdów ohmowych, zapełniania siĘ pułapek nośników ładunku i prądów ograniczonych ładunkiem przestrzennym w polikrystalicznych poliacenach, takich jak tetracen i pentacen.