Filtry
wszystkich: 137
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (103)
Wyniki wyszukiwania dla: PRZETWORNIK A/C
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Katedra Metrologii i Systemów Informacyjnych
Potencjał Badawczy* Diagnostyka silników elektrycznych i magnesów nadprzewodzących * Metody pomiaru impedancji zwarciowej * Zastosowania modulowanych częstotliwościowo sygnałów impulsowych * Pomiary dla diagnostyki medycznej * Ocena niepewności pomiaru * Zastosowanie grafenu do wykrywania elektronicznego
-
Katedra Automatyki Napędu Elektrycznego i Konwersji Energii
Potencjał Badawczy* nieliniowe sterowanie maszynami elektrycznymi * napędy elektryczne o sterowaniu bez czujnikowym * sterowanie przekształtnikami energoelektronicznymi, w tym przekształtnikami na średnie napięcia i przekształtnikami sieciowymi * energoelektroniczne układy przetwarzania energii w odnawialnych źródłach energii * projektowanie i badanie falowników i przetwornic * projektowanie układów sterowania mikroprocesorowego z wykorzystaniem...
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (34)
Wyniki wyszukiwania dla: PRZETWORNIK A/C
-
Laboratorium Automatyki Napędu Elektrycznego
Oferta BiznesowaProgramowalne układy napędowe zasilane przekształtnikowo ze sterowaniem mikroprocesorowym
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Oferta BiznesowaStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
-
Laboratorium LINTE^2
Oferta BiznesowaBadania w zakresie elektroenergetyki, energoelektroniki i przyłączania nowoczesnych źródeł energii do sieci elektroenergetycznej
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (5639)
Wyniki wyszukiwania dla: PRZETWORNIK A/C
-
Decymator do przetwornika A/C typu ä(delta)
PublikacjaArtykuł opisuje projekt decymatora wykorzystywanego w przetworniku analogowo-cyfrowym typu ä(trójkt). Zaprojektowana struktura została zasymulowana zza pomocą programu MATLAB. Rozwijając architekturę decymatora szczególny nacisk został położony na minimalizację pobieranej mocy.
-
Laboratoryjny przetwornik a/c typu "floating-point" na bazie karty DAQ
PublikacjaW artykule przedstawiono zrealizowany przetwornik a/c typu "floating-point" na bazie karty akwizycji danych typu PCI-6221 uzupełnionej o wzmacniacz wejściowy o programowanym wzmocnieniu. Opisywany przetwornik jest podstawą ćwiczenia w laboratorium studenckim. W skład ćwiczenia wchodzą dodatkowo program symulacyjny pozwalający zapoznać się z ideą pracy przetworników typu "floating-point", a następnie przejść do realizacji przetwornika...
-
Journal of Physical Chemistry C
Czasopisma -
Realizacja przetwornika obrazu CMOS z wbudowaną konwersją A/C i cyfrowym układem CDS
PublikacjaW artykule przedstawiono realizację w technologii CMOS 180 nm przetwornika obrazu z wbudowaną konwersją analogowo-cyfrową oraz z funkcją cyfrowej redukcji szumu. Przedstawiona realizacja przetwornika obrazu różni się od znanych z literatury rozwiązań tym, że układ redukcji szumu CDS (Correlated Double Sampling) umieszczono w każdym pikselu obrazu. Dzięki tej modyfikacji możliwe jest zastąpienie migawki szczelinowej przez migawkę...
-
Wykorzystanie przetworników A/C wbudowanych w mikrokontrolery do pomiarów parametrów sygnałów zmiennych
PublikacjaPrzedstawiono nową metodę pomiaru parametrów przebiegów sinusoidalnych, takich jak okres, amplituda i napięcie offsetu, opracowaną dla elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Ideą metody jest utworzenie z wewnętrznych pomiarowych urządzeń peryferyjnych mikrokontrolera (liczników, przetworników A/C i komparatorów analogowych) rekonfigurowanych mikrosystemów pomiarowych cechujących się dużą elastycznością...