Katedra Metrologii i Optoelektroniki - Jednostki Administracyjne - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Katedra Metrologii i Optoelektroniki

Filtry

wszystkich: 423

  • Kategoria
  • Rok
  • Opcje

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Katalog Publikacji

Rok 2004
  • The influence of sampling parameters on accuracy of capacitance measurement in the method based on DSP.
    Publikacja

    - Rok 2004

    W artykule przedstawiono metodę pomiaru parametrów impedancyjnych bazującą na próbkowaniu sygnałów pomiarowych i DSP. Przeanalizowano wpływ głównych źródeł niepewności i błędów na dokładność pomiaru pojemności. Zawarto analizę dla następujących parametrów: niesynchroniczne próbkowanie sygnałów pomiarowych (napięciowego i prądowego), rozdzielczość przetwornika a/c i ilość zbieranych próbek. Załączono wyniki symulacji.

  • The high impedance measuring probe for gain-phase analysers.
    Publikacja

    - Rok 2004

    Autorzy opracowali tanią sondę pomiarową przeznaczoną do pracy z analizatorami gain-phase jak Solartron 1260 Impedance/Gain-phase Analyser, 1255 Frequency Response Analyser (FRA) lub starszymi wersjami 1250, 1253. Przedstawiona architektura sondy wyznacza jej parametry metrologiczne. Pomiary możliwe są w 8 zakresach obejmujących wartości 100ohm<|Zx|<100Gohm w szerokim zakresie częstotliwości 10uHz-1MHz. Obwód wejściowy sondy pozwala...

  • The Goertzel filter-bank usage in the non-stationary impedance measurement.
    Publikacja

    Artykuł prezentuje metodę pomiaru parametrów impedancyjnych w warunkach niestacjonarnych bazującą na próbkowaniu sygnałów pomiarowych i przetwarzaniu cyfrowym. Zaproponowano i przeanalizowano zastosowanie banku filtrów Goertzela. Porównano zaproponowane podejście z tradycyjnie stosowaną metodą STDFT. Przedstawiono wynik symulacji i pomiarów.

  • Testing method of analog parts for mixed signal microsystems based on microcontrolles.
    Publikacja

    - Rok 2004

    Zaproponowano nową metodę detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych, która może znaleźć zastosowanie do samo-testowania sieci analogowych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami. Metoda ta jest oparta na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne na płaszczyźnie. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację...

  • Techniques of interference reduction in probe system for wafer level noise measurements of submicron semiconductor devices.
    Publikacja

    Przedstawiono skrótowo system do ostrzowych pomiarów szumów struktur submikronowych. Znaczny wpływ na pomiary ostrzowe mają zakłócenia i szumy własne systemu, zwłaszcza zakłócenia o wysokim poziomie wpraowadzane przez ostrza (fluktuacje rezystancji styków ostrza do struktury powodowane przez wibracje i udary mechaniczne w środowisku pomiarowym)i środowisko elektromagnetyczne. Zakłócenia okresowe powodowane przez wibracje i pola...

  • Światłowodowe sensory odkształceń i temperatury wykorzystujące pomiar czasu .
    Publikacja

    - Rok 2004

    W pracy przedstawiono zasadę działania światłowodowych sensorów wykorzystujących pomiar czasu przelotu krótkich impulsów laserowych. Sensory te mogą pracować w trybie transmisyjnym lub odbiciowym. Dzięki swej małej tłumienności można je łatwo łączyć w sieci o różnych topologiach, mających wiele (dziesiątki lub setki punktów pomiarowych). Przykładem sensora z pomiarem czasu przelotu jest odcinek światłowodu jednomodowego poddany...

  • Sythesis and Characterization of Optical Sol-Gel Adhesive for Military Protective Polycabonate Resin.Wytwarz
    Publikacja
    • M. Keranen
    • M. Gnyba
    • P. Raerinne
    • T. Kololuoma
    • A. Maaninen
    • J. Rantala

    - Rok 2004

    Przedstawiono proces syntezy spoiw optycznych do laminatów poliwęglanowych. Scharakteryzowano właściwości optyczne i mechniczne. W procesie syntezy zastosowano monitoring ramanowski do diagnostyki przebiegu bazowych reakcji chemicznych.

  • Spektrometr fourierowski z pryzmatem Nomarskiego.
    Publikacja

    W pracy omówiono zasadę działania i stosowane realizacje spektrometru fourierowskiego. Zaprezentowano wyniki modelowania optycznej części spektrometru wykorzystującego pryzmat Nomarskiego. Omówiono wyniki pomiarów widma diod elektroluminescencyjnych wykonane przy pomocy zrealizowanego prototypu.

  • Resistance Noise Higher-Order Spectrums in Nanoparticle Gas Sensors.
    Publikacja

    - Rok 2004

    Przedstawiono badania fluktuacji rezystancji sensora gazu wykonanego z nanocząstek WO3. Stwierdzono występowanie składowych o rozkładzie prawdopodobieństwa różnym od rozkładu Gaussa. W celu zwiększenia czułości i selektywności wykrywanych gazów zastosowan do analizy obserwowanych fluktuacji spektra wyższych rzędów.

  • Random components influence on the values characterising periodic disturbances in low voltage supply lines.
    Publikacja

    - Rok 2004

    Analizowano wpływ składowych losowych na wielkości charakteryzujących zaburzenia okresowe w napięciu zasilania na przykładzie współczynnika zawartości harmonicznych (THD). Zaprezentowano sposób wyznaczania niepewności pomiaru współczynnika THD, uwzględniający występowanie korelacji pomiędzy składową podstawową i kolejnymi harmonicznymi napięcia sieci a także między poszczególnymi harmonicznymi. Przedstawiono analizę wyników z pomiarów...

  • Raman studies of ferroelectric ceramics.
    Publikacja

    - Rok 2004

    Przedstawiono potencjał aplikacyjny spektroskopii Ramana w diagnostyce procesu technologicznego wytwarzania cienkowarstwowych struktur perowskitowych o strukturze Ba(Ti1 xZrx)O3, posiadających możliwość strojenia przenikalności elektrycznej za pomocą pola elektrycznego. Skonfigurowano systemy pomiarowe do badania zarówno próbek objętościowych, jak i struktur cienkowarstwowych. Zidentyfikowano najistotniejsze linie w widmach ramanowskich,...

  • Raman Spectroscopy for Investigation of Sol-Gel Materials and Ceramic Materials.
    Publikacja

    - Rok 2004

    Przedstawiono rezultaty prac nad zastosowanie spektroskopii ramanowskiej do badania polimerów hybrydowych wytwarzanych metodą zol-żel oraz ceramik ferroelektrycznych. Wykonano pomiary dla próbek objętościowych i struktur cienkowarstwowych. Zademonstrowano możliwośc monitorowania procesu syntezy w czasie rzeczywistym.

  • Optyczna tomografia niskokoherencyjna wykorzystująca reflektometrię optyczną OTDR.
    Publikacja

    W artykule omówiono OCT (optyczną tomografię niskokoherentną) wykorzystującą technikę OLCDR (niskokoherentną reflektometrię optyczną). Określono wpływ parametrów źródeł światła na podłużną i poprzeczną rozdzielczość pomiaru oraz na wartość stsounku sygnał-szum.

  • Optoelektroniczne metody pomiaru grubości cienkich transparentnych warstw wytwarzanych w procesach próżniowych.
    Publikacja

    W artykule opisano problemy związane z określaniem grubości cienkich transparentnych warstw dielektrycznych, syntetyzowanych w procesach próżniowych. Przedstawiono stosowane metody pomiarowe, szczególny nacisk kładąc na techniki optoelektroniczne, oparte na badaniu interferencji i zmiany stanu polaryzacji światła w wyniku oddziaływania z cienką warstwą oraz na analizie spektralnej. Opisano praktyczne układy, umożliwiające pomiary...

  • Optoelektroniczne metody ochrony infrastruktury teleinformatycznej.
    Publikacja

    Kluczowe znaczenie infrastruktury teleinformatycznej w funkcjonowaniu współczesnego państwa wymaga zapewnienia bezpieczeństwa jej funkcjonowania. W referacie omówiono metody kontroli dostępu do obiektów infractruktury teleinformatycznej wykorzystujące optyczne techniki wykrywa-nia i zobrazowania oraz interferometryczne rozłożone sensory światłowodowe i sieci sensorowe. Przedstawiono zastosowanie technik biometrycznych w identyfikacji...

  • Optical measurements for thin oil film investigation in rheometric processes.
    Publikacja

    Przedmiotem badań jest pomiar parametrów cienkiej warstwy oleju silikonowego AK106, powstającej na ścianach dyszy w trakcie procesu reologicznego wyciskania do form past ceramicznych, przygotowywanych ze sproszkowanego tlenków wodorotlenków AlOOH oraz oleju AK106. Parametrami badanymi były: grubość warstwy oleju, charakterystyka reflektancyjna pasty oraz skład mieszaniny. Przedstawione zagadnienie ma istotne znaczenie dla rozwoju...

  • On fault diagnosis of analogue electronic circuits based on transformations in multi-dimensional spaces.
    Publikacja

    - Rok 2004

    Przedstawiono ideę nowej klasy metod diagnostycznych opartej na przekształceniu transformującym zmiany parametru układu na krzywe identyfikacyjne w przestrzeniach wielowymiarowych. Rozszerzono również klasę tych metod na diagnostykę uszkodzeń wielokrotnych. Dla takich metod omówiono algorytm lokalizacji i identyfikacji pojedynczych i wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych w liniowych układach elektronicznych. Przedstawiono rezultaty...

  • Noninvasive glucose sensing in scattering media using OCT, PAS, and TOF techniques.
    Publikacja
    • E. Alarousu
    • J. T. Hast
    • M. T. Kinnunen
    • M. Y. Kirillin
    • R. A. Myllyla
    • J. Pluciński
    • A. P. Popov
    • A. V. Priezzhev
    • P. Tuukka
    • J. Saarela
    • Z. Zhao

    - Rok 2004

    W pracy przedstawiono możliwości wykorzystania optycznej tomografii koherencyjnej (OCT), spektroskopii fotoakustycznej (PAS)i spektroskopii czasu przelotu (TOF) w pomiarach glukozy w ośrodku silnie rozpraszającym. Równolegle opracowano modele propagacji światła w tych ośrodkach wykorzystując metodę Monte Carlo. W pomiarach wykorzystano ''Intralipid'' jako fantom tkanki. W dalszych badaniach wykorzystano mięso wieprzowe i dokonano...

  • Noise of optoelectronic coupled devices
    Publikacja
    • A. Konczakowska
    • J. Cichosz
    • S. Galla
    • B. Stawarz
    • S. Galla

    - Rok 2004

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

  • Noise of optoelectronic coupled devices.

    Opisano trzy systemy do pomiaru szumów transoptora a mianowicie: system do pomiaru szumów m. cz. diod LED, system do pomiaru szumów m. cz. fototranzystorów oraz system do pomiaru szumów m. cz. transoptorów. Przedstawiono wyniki pomiaru szumów m. cz. próby 13 transoptorów. Określono współczynnik korelacji między intensywnością szumów a wybranymi parametrami stałoprądowymi tych transoptorów.