Search
dr inż. Lech Hasse
Employment
Publications
Filters
total: 66
Catalog Publications
Year 2004
-
Factors determining the production testing of high reliability interference supressor capacitors.
PublicationPrzyjęto nieliniowości i właściwości szumowe kondensatora jako kryteria selekcji kondensatorów przeciwzakłóceniowych na klasy o zróżnicowanej niezawodności. Poprawia to proces oceny jakości kondensatorów o podwyższonej niezawodności. Przedstawiono zastosowanie technik pomiaru nieliniowości i szumów w systemie do produkcyjnego testowania kondensatorów przeciwzakłóceniowych o podwyższonej niezawodności. Przytoczono wybrane wyniki...
-
Measurement of noise parameter set in the low frequency range: requirements and instrumentation.
PublicationOpisano dwa podstawowe szumowe modele metrologiczne czwórnika: ze źródłami szumów odniesionymi do wejścia i ze zwarciowymi prądami szumów. Parametry szumowe opisujące modele zawierające korelację pomiędzy prądami i/lub napięciami są mierzone przy zastosowaniu metod bezpośrednich i pośrednich. Przedstawiono kilka technik redukcji szumów własnych systemu pomiarowego. Szerzej zaprezentowano dwukanałowy system do pomiaru szumów z komputerowym...
-
Pomiar i obróbka sygnałów emisji akustycznej w diagnostyce obiektów.
PublicationPraca zawiera skrótowy przegląd metod diagnostycznego badania obiektów, ukierunkowany na zastosowanie analizy emisji akustycznej (AE) i elektromagnetycznej (EME) z uwypukleniem korzyści aplikacyjnych tych metod. Opisano eksperyment wskazujący na korelację między sygnałami AE i EME, co stwarza możliwośc lokalizacji źródła sygnału emisji akustycznej w miejscu wystąpienia defektu. Rekonstrukcja zniekształconych i zaszumionych obrazów...
-
Spektroskopia szumowa. Część I. System pomiarowy, badania struktur półprzewodnikowych.
PublicationOpisano zakres szczegółowych badań sygnałów szumowych w spektroskopii. Przedstawiono system do pomiaru szumów i warunki pomiaru sygnałów szumowych. Podano jak zastosowanie analizy szumów małoczęstotliwościowych może stanowić narzędzie w wykrywaniu wad montażu przyrzadów półprzewodnikowych. Pomiary ostrzowe szumów struktur półprzewodnikowych stanowią jeden z elementów tej analizy.
-
Spektroskopia szumowa. Część II. Badania przyrządów półprzewodnikowych, szumy elektrochemiczne i emisja akustyczna w diagnostyce.
PublicationPrzedstawiono wyniki pomiaru szumów 1/f tranzystorów z GaAs i ich analizę w spektroskopii. Opisano procedurę klasyfikacji na grupy o zróżnicowanej jakości półprzewodnikowych elementów mocy na podstawie wyników pomiaru szumów małoczęstotliwościowych. Szumy elektrochemiczne stanowią dogodne narzędzie do analizy korozji, zwłaszcza korozji wżerowej. Przedstawiono wyniki pomiaru szumów ogniw słonecznych i ich porównanie z analizą niejednorodności...
-
Techniques of interference reduction in probe system for wafer level noise measurements of submicron semiconductor devices.
PublicationPrzedstawiono skrótowo system do ostrzowych pomiarów szumów struktur submikronowych. Znaczny wpływ na pomiary ostrzowe mają zakłócenia i szumy własne systemu, zwłaszcza zakłócenia o wysokim poziomie wpraowadzane przez ostrza (fluktuacje rezystancji styków ostrza do struktury powodowane przez wibracje i udary mechaniczne w środowisku pomiarowym)i środowisko elektromagnetyczne. Zakłócenia okresowe powodowane przez wibracje i pola...
-
Zastosowanie oprogramowania COMSIS do oceny dynamicznej odporności na zakłócenia cyfrowych układów kombinacyjnych.
PublicationWyniki badania odporności układów cyfrowych na zakłócenie dynamiczne w istotny sposób zależą od parametrów sygnału stymulującego. Proponowana metodyka zakłada pobudzanie badanego układu sygnałem szumu białego o określonej szerokości pasma częstotliwości. Badania symulacyjne z modelem układu progowego oraz szybkiego komparatora z histerezą przeprowadzono w środowisku COMSIS. Uzyskane wyniki potwierdzają, że im węższe pasmo szumu...
Year 2003
-
Badania symulacyjne dynamicznej odporności na zakłócenia układów cyfrowych. Zastosowanie Komputerów w Nauce i Technice.XIII cykl seminariów zorganizowanych przez PTETiS, Oddział Gdańsk.
PublicationPrzedstawiono metodę pomiaru dynamicznej odporności na zakłócenia układów cyfrowych z zastosowaniem wzorcowego sygnału szumowego. Przeprowadzono badania symulacyjne z wykorzystaniem kilku modeli badanego układu cyfrowego, w tym modelu detektora progowego oraz szybkiego komparatora z histerezą.
-
Methods of non-stationary components detection of random fluctuations
PublicationPrzedstawiono problem detekcji składowych niestacjonarnych dla kilku rodzajów sygnałów losowych reprezentujących zjawiska szumowe w systemach fizycznych. Zaproponowano zastosowanie kilku specyficznych metod detekcji na podstawie analizy w dziedzinie częstotliwości i przedyskutowano uzyskane wyniki potwierdzające efektywność tych metod. Bardziej złożona obliczeniowo metoda z zastosowaniem transformaty falkowej daje lepsze rezultaty...
-
Metody zwiększenia czułości dwukanałowego systemu pomiaru szumów.
PublicationZnajomość właściwości szumowych elementów elektronicznych w zakresie małych częstotliwości, gdzie dominują szumy o widmie typu 1/f, stanowi efektywne narzędzie oceny jakości procesu technologicznego wytwarzania tych elementów oraz predykcji ich niezawodności. Przeprowadzenie dokładnych pomiarów parametrów i charakterystyk szumowych stwarza jednak często wiele problemów.
-
Noise as stimulus signal for digital circuits noise immunity measurementand simulation
PublicationWyniki pomiarów podatności na zakłócenia układów cyfrowych istotnie zależą od parametrów sygnału stymulujacego. Przedstawiono metodę pomiaru i symulacji dynamicznej odporności na zakłócenia z zastosowaniem sygnału szumu białego o różnej szerokości pasma częstotliwości. Modele symulacyjne dla sygnału pobudzającego (gaussowskiego szumu białego) zarówno szerokopasmowego jak i wąskopasmowego opracowano w środowisku programistycznym...
-
Pomiary szumów i zakłóceń
PublicationPraca zawiera uzasadnienie potrzeby doskonalenia techniki pomiarów szumów i zakłóceń, zwłaszcza sygnałów losowych - zarówno ergodycznych jak i niestacjonarnych, z wykorzystaniem sprzętu komputerowego. Przedstawione zostały uwarunkowania aparaturowe mające zasadniczy wpływ na algorytmiczne wyznaczanie wielkości charakteryzujących szumy i zakłócenia po procesie ich digitalizacji. Podane zostały także przykładowe zastosowania wspomaganych...
Year 2002
-
Low frequency noise and DLTS as silicon solar cell characterization tools
PublicationPraca zawiera wyniki pomiarów DLTS próbek o powierzchni 1 mm2 krzemowych baterii słonecznych wykazujących znaczne niejednorodności wykryte za pomocą metody LBIV (Light Beam Induced Voltage). Wyniki pomiarów charakterystyk stałoprądowych oraz szumowych tych próbek zostały także przedstawione.
-
Procesory sygnałowe w laboratoriach cyfrowego przetwarzania sygnałów. Zastosowanie Komputerów w Nauce i Technice.XII cykl seminariów zorganizowanych przez PTETiS, Oddział Gdańsk.
PublicationPrzedstawiono problematykę ćwiczeń laboratoryjnych realizowanych przez studentów z zastosowaniem zestawów uruchomieniowych z procesorami sygnałowymiTMS320C5x, ADSP-21xx oraz TMDS320C6711 w ramach laboratoriów cyfrowego przetwarzania sygnałów. Z uwagi na stopień złożoności, jak i możliwości techniczne, najwięcej uwagi poświęcono zestawom zawierającym procesory sygnałoweTMS6711 oraz środowisku programistycznemu Code Composer...
-
Zakłócenia w układach cyfrowych. Mechanizmy i metody pomiaru
PublicationPrzedstawiono mechanizmy powstawania i sposoby pomiaru podatności układów cyfrowych na zakłócenia. Zaprezentowano metodę pomiaru dynamicznej odporności na zakłócenia układów cyfrowych z zastosowaniem wzorcowego sygnału szumowego z możliwością ograniczania szerokości pasma stymulującego sygnału szumowego. Opisano opracowane modele symulacyjne i przykładowe wyniki badań potwierdzające efektywność zaproponowanej metody.
-
Zwiększenie czułości systemu do pomiaru szumów metodą korelacyjnej analizy widmowej. Zastosowanie Komputerów w Nauce i Technice. XII cykl seminariów zorganizowanych przez PTETiS, Oddział Gdańsk.
PublicationPrzedstawiono dwukanałowy system do pomiaru szumów o bardzo niskim poziomie metodą bezpośrednią. W celu poprawy dokładności pomiaru koherencji między mierzonymi w obu kanałach za pomocą wzmacniaczy transimpedancyjnych prądami szumów proponowany jest dodatkowy etap pomiaru z wykorzystaniem przedwzmacniacza napięciowego oraz włączenie w kanale wejściowym pomiędzy mierzonym czwórnikiem a wzmacniaczem transimpedancyjnym wzmacniacza...
seen 1707 times