Filters
total: 35
filtered: 7
Chosen catalog filters
Search results for: korozja miedzykrystaliczna
-
Laboratorium Konstrukcji Oceanotechnicznych
Business OfferBadania mechaniczne, badania zmęczeniowe, badania metalograficzne, badania całych węzłów konstrukcyjnych, pomiary wytężenia rzeczywistych konstrukcji
-
Laboratorium Nanomateriałów CZT
Business OfferBadanie właściwość powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych
-
Laboratorium Maszyn i Systemów Okrętowych
Business OfferBadania procesów i zjawisk w czasie realizacji obiegu roboczego w silniku z zapłonem samoczynnym dla potrzeb diagnostyki maszyn tłokowych.
-
Centrum Civitroniki – Centrum Zaawansowanych Technologii
Business OfferCentrum Civitroniki działa na Wydziale Inżynierii Lądowej i Środowiska Politechniki Gdańskiej. W skład Centrum Cicitroniki wchodzą następujące pracownie:Pracownia DIM-Tefal, Pracownia defektorskopii, badań materiału i konstrukcji metalowych, Pracownia geodezyjnego monitorowania budowli inżynierskich, Pracownia badań drogowych, Pracownia fizyki budowli oraz Nazwa Civitronika jest wynikiem połączenia wyrażeń: „civil engineering”...
-
Laboratorium Badań Terenowych
Business Offerdiagnostyka obiektów mostowych i inżynierskich: badania in situ, próbne obciążenia, monitoring i identyfikacja konstrukcji, zaawansowane analizy teoretyczne i obliczeniowe
-
Laboratorium Diagnostyki Silników i Sprężarek Tłokowych
Business OfferIdentyfikacja stanu technicznego głównych układów funkcjonalnych silników spalinowych i sprężarek w oparciu o wyniki badań diagnostycznych.
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Business OfferStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...