Filters
total: 124
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (94)
Search results for: ŹRÓDŁA NISKOKOHERENTNE
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Katedra Elektroenergetyki
Research Potential* ochrona i bezpieczeństwo pracy systemu elektroenergetycznego, * stabilność sterowanie pracą systemu elektroenergetycznego, * kompleksowe modelowanie systemów elektroenergetycznych oraz szczegółowe modele elementów systemu, * urządzenia FACTS i systemy HVDC w systemach elektroenergetycznych, * odnawialne źródła energii w systemach elektroenergetycznych, * urządzenia i instalacje elektryczne, * optymalizacja struktury i parametrów...
-
Katedra Technologii Wody i Ścieków
Research PotentialAktywność naukowo-badawcza pracowników katedry koncentruje się wokół zagadnień dotyczących technologii ochrony środowiska, w szczególności zagadnienia oczyszczania wód i ścieków, gospodarki osadowej jak również gospodarki odpadami. Prowadzone badania poświęcone są ocenie zagrożeń środowiska wynikających z dopływu zanieczyszczeń ze źródeł punktowych (zanieczyszczonych wód i ścieków ) i powierzchniowych (ścieków opadowych) oraz...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (30)
Search results for: ŹRÓDŁA NISKOKOHERENTNE
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Business OfferStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
-
Laboratorium Źródeł Energii w Katedrze Konwersji i Magazynowania Energii
Business Offer -
Laboratorium Inteligentnej Energetyki LAB-6
Business OfferKompatybilność elektromagnetyczna urządzeń elektrycznych i elektronicznych, jakość energii, efektywność energetyczne, bezpieczeństwo użytkowania urządzeń, badania instalacji elektrycznych niskiego napięcia.
Other results Pokaż wszystkie wyniki (1698)
Search results for: ŹRÓDŁA NISKOKOHERENTNE
-
Synthesized light source for optical coherence tomography
PublicationW artykule omówiono wpływ parametrów źródła promieniowania optycznego na właściwości systemu OCT. Szczególną uwagę zwrócono na źródła syntezowane. Omówiono charakterystykę źródła zbudowanego z dwóch różnych diod SLD. Przedstawiono wyniki pomiarów, które wskazują na możliwości znacznego polepszenia czułości i rozdzielczości systemu OCT wykorzystującego takie źródło.
-
Optyczna tomografia niskokoherentna w badaniach obiektów technicznych
PublicationW pracy przedstawiono polaryzacyjny system OCT pracujący w dziedzinie czasu z detekcją zrównoważoną do badań obiektów technicznych. Obiektem badań z wykorzystaniem tego systemu były warstwy wykonane z ceramiki PLZT 9/65/35. Mierzone były grubości tych warstw i ich jednorodność.
-
Niskokoherentny, interferometryczny system do badaniawłaściwości materiałów ceramicznych
PublicationPrzedstawiono światłowodowy system dwuwymiarowej wizualizacjiniejednorodnych struktur warstw ceramicznych. Omówiono projekti fizyczną realizację układu wykorzystującego optyczną, niskokoherentną reflektometrię optyczną, która umożliwia nieinwazyjne i bezkontaktowe obrazowanie wewnętrznych struktur różnych materiałówsilnie rozpraszających promieniowanie. Przedstawiono przykładowewyniki pomiarów wewnętrznych warstw ceramiki LSFO....
-
Badanie niejednorodności warstwy ceramiki PLZT metodami optycznej interferometrii niskokoherentnej
PublicationW artykule omówiono metodę badania wewnętrznej struktury materiałów ceramicznych z wykorzystaniem interferometrii niskokoherentnej. Przedstawiono układ pomiarowy optycznej tomografii koherentnej, wykorzystujący niskokoherentny interferometr do badania niejednorodności występujących w strukturze ośrodków rozpraszających. Zaprezentowano wyniki pomiarów grubości i niejednorodności ceramicznych warstw PLZT. Przeprowadzono rozważania...
-
Badanie niejednorodności warstwy ceramiki PLZT metodami optycznej interferometrii niskokoherentnej
PublicationW artykule omówiono metodę badania wewnętrznej struktury materiałów ceramicznych z wykorzystaniem interferometrii niskokoherentnej. Przedstawiono układ pomiarowy optycznej tomografii koherentnej, wykorzystujący niskokoherentny interferometr do badania niejednorodności występujących w strukturze ośrodków rozpraszających. Zaprezentowano wyniki pomiarów grubości i niejednorodności ceramicznych warstw PLZT. Przeprowadzono rozważania...