Search
Filters
total: 6
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (4)
Search results for: DIAGNOSTYKA ELEKTRONICZNA
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Katedry Konstrukcji Maszyn i Pojazdów
Research Potential* Badania własności smarów i cieczy technicznych * Badania tarcia i zużycia elementów maszyn - dobór materiałów na współpracu-jące elementy, dobór środków smarowych, dobór alternatywnych materiałów umożliwiających pracę bez smarowania lub przy smarowaniu wodą * Badania diagnostyczne maszyn i urządzeń, badania trwałości i niezawodności * Projektowanie i optymalizacja konstrukcji nietypowych maszyn i urządzeń * Projektowanie urządzeń...
-
Katedra Marketingu
Research Potential* marketingu usług * marketingu relacji * badań marketingowych * kształtowania strategii marketingowej * analizy rynku * zarządzania wdrażaniem nowych produktów * marketingu przemysłowego * zarządzania i planowania marketingowego oraz zarządzania relacjami z klientami * kultury marketingowej * instrumentów marketingu - mix * systemów informacji marketingowej * rozwoju regionalnego i lokalnego w aspekcie działań marketingowych *...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (2)
Search results for: DIAGNOSTYKA ELEKTRONICZNA
-
Laboratorium Innowacyjnych Zastosowań Informatyki
Business OfferBadania nad użytecznością i jakością oprogramowania w różnych zastosowaniach, w szczególności rozpoznawanie emocji użytkowników komputerów oraz badanie użyteczności oprogramowania i doświadczenia użytkownika aplikacji.
-
Superkomputer Tryton
Business OfferObliczenia dużej skali, Wirtualna infrastruktura w chmurze (IaaS), Analiza danych (big data)
Other results Pokaż wszystkie wyniki (15)
Search results for: DIAGNOSTYKA ELEKTRONICZNA
-
Zastosowanie dociążenia geometrycznego (preload) w łożyskach prowadzących jako sposób eliminacji drgań połówkowych (wiru olejowego). W: [CD-ROM] Nowoczesny Monitoring i Diagnostyka Maszyn Energetycznych ze Szczególnym Uwzg-lędnieniem Elektrowni Wodnych. Warszawa, 27.11.2003. [B.m.w]**2003, wykładoraz prezentacja elektroniczna z wykorzyst. Programu Power Point + wydr. 12 s.
PublicationW referacie omówiono przyczyny i sposoby eliminacji wiru olejowego w łożyskach ślizgowych. Przedstawiono różne konstrukcje łożysk antywibracyjnych. Omówiono ich wady i zalety.
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Teams* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Implementacja mikroserwerowa TCP/IP w systemie diagnostycznym bazującym na cyfrowej magistrali testujacej IEEE 1149.1
PublicationPrzedstawiono mikrosystem pomiarowo-diagnostyczny sterowany przez Internet i pozwalający na zdalne testowanie układów analogowych. Do realizacji mikrosystemu wykorzystano kontroler ethernetu RTL8019AS, mikrokontroler PIC18F4620 oraz wyposażony w magistralę IEEE 1149.1 i przetwornik analogowo-cyfrowy układ scalony SCANSTA476. Aplikacja pozwala na przeprowadzanie zdalnego pomiaru napięcia w 8 wybieranych programowo punktach. Obszarem...
-
Diagnosis of fully differential circuits based on a fault dictionary implemented in the microcontroller systems
PublicationPrzedstawiono nową koncepcję testera wbudowanego bist przeznaczonego do diagnostyki w pełni różnicowych układów analogowych implementowanych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo. w trakcie testowania mierzona jest amplituda i faza wyjściowego napięcia różnicowego. procedura detekcji i lokalizacji uszkodzeń bazuje na słowniku uszkodzeń przechowywanym w pamięci programu mikrokontrolera. korzystną cechą przestrzeni pomiarowej wyznaczonej...
-
Realizacja samo-testowania części analogowych elektronicznych syste-mów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A
PublicationPrzedstawiono mikrosystem pomiarowy zbudowany z zasobów sprzętowych mikrokontrolera ATXmega32A4 pełniący funkcję układu testera wbudowanego przeznaczonego do samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych. Samotestowanie opiera się na metodzie diagnostycznej, w której układ badany pobudzany jest impulsem prostokątnym, a jego odpowiedź czasowa próbkowana przez przetwornik A/C mikro-kontrolera. Licznik mikrokontrolera...