Filters
total: 125
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (100)
Search results for: ELLIPSE-FITTING ALGORITHM
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Katedra Geodezji
Research PotentialKatedra Geodezji realizuje zadania związane z geodezją i kartografią, a przede wszystkim w zakresie geodezji inżynieryjnej, fotogrametrii, teledetekcji, gospodarki nieruchomościami, systemów informacji przestrzennej oraz nawigacji i pomiarów GPS. W ramach Katedry Geodezji funkcjonują Zespoły Dydaktyczne związane z przedmiotami i szkoleniami oraz Zespoły Badawczo-Rozwojowe prowadzące prace naukowe i realizacje techniczne we współpracy...
-
Zespół Inżynierii Mikrofalowej i Antenowej
Research PotentialSpecjalność badawcza KIMiA wiąże się z techniką b.w.cz. i dotyczy zakresu częstotliwości od setek megaherców do kilkudziesięciu gigaherców. Przedmiotem badań teoretycznych (analiza, synteza, symulacja i modelowanie komputerowe,) oraz eksperymentalnych są elementy (prowadnice, sprzęgacze, rozgałęzienia) oraz układy pasywne (cyrkulatory, przesuwniki fazy, obciążenia, tłumiki) i aktywne (wzmacniacze, mieszacze, powielacze, modulatory),...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (25)
Search results for: ELLIPSE-FITTING ALGORITHM
-
Środowiskowe Laboratorium Technologii Bezprzewodowych
Business OfferŚrodowiskowe Laboratorium Technologii Bezprzewodowych powstało w ramach realizacji projektu CZT Centrum Zaawansowanych Technologii POMORZE i mieści się w Katedrze Inżynierii Mikrofalowej i Antenowej na Wydziale Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej. Laboratorium zostało wyposażone w specjalistyczne zaplecze aparaturowe, które w połączeniu z kompetencjami naukowymi i technologicznymi kadry pozwala na...
-
Pracownia Fotogrametrii i Teledetekcji Niskiego Pułapu
Business OfferW pracowni prowadzone są badania naukowe oraz zajęcia dydaktyczne z zakresu fotogrametrii cyfrowej i teledetekcji, szczególnie z niskiego pułapu czyli z bezzałogowych statków powietrznych. W ramach działań pracowni prowadzone są pomiary terenowe z użyciem nowoczesnych technik pomiarowych i bezzałogowych statków powietrznych, szkolenie lotnicze operatorów bezzałogowych statków powietrznych. Prace kameralne realizowane są na nowoczesnym...
-
Laboratorium Badawcze 2-3
Business OfferObliczenia komputerowe wymagające dużych mocy obliczeniowych z wykorzystaniem oprogramowania typu: Matlab, Tomlab, Gams, Apros.
Other results Pokaż wszystkie wyniki (1799)
Search results for: ELLIPSE-FITTING ALGORITHM
-
Ellipse-fitting algorithm implementation in the impedance measurement system based on DAQ card with FPGA
PublicationThe paper presents an implementation of the ellipse-fitting algorithm in the impedance measurement system based on DAQ card equipped with FPGA chip. The method implementation was tested by simulation means as well as experimentally in the designed and presented measurement system. Finally, the limit values of sampling parameters which assures satisfying accuracy were given.
-
APPLYING RANSAC ALGORITHM FOR FITTING SCANNING STRIPS FROM AIRBORNE LASER SCANNING
PublicationDuring the development of the data acquired by airborne laser scanning the important issue is the fitting and georeferencing of ALS point clouds by means of the tie surfaces and the reference planes. The process of scanning strips adjustment is based on mutual integration of point clouds (scanning strips) and their adaptation to the reference planes.In simultaneous adjustment all strips are combined into one geometrically coherent...
-
Chemical investigation of the Al2O3 ultra-thin films
Open Research DataUltra-thin layers of oluminum oxide (Al2O3) were deposited by ALD method. Atomic layer deposition provides precise thickness control down to a single atomic layer. The precursors used were trimethylaluminum (Sigma-Aldrich) and purified water. The deposition of the atomic layer was carried out at 200 °C. Samples with a thickness of 2 and 8 nm of alumina...
-
Depth profile of the composition of 8 nm Al2O3 thin film
Open Research Data8 nm layer of aluminum oxide (Al2O3) was deposited by ALD method on a s. Atomic layer deposition provides precise thickness control down to a single atomic layer. The precursors used were trimethylaluminum (Sigma-Aldrich) and purified water. The deposition of the atomic layer was carried out at 200 °C. To investigate the profile of concenration of...
-
Chemical composition of tellurium oxides thin films deposited by magnetron sputtering method
Open Research DataThin films were prepared by radio frequency reactive magnetron sputtering technique. Metallic Te target was sputtered for about 45 min in argon-oxygen atmosphere what resulted in 300 nm film thickness deposition. The pressure in the chamber was below 0.2 Pa and substrate was heated at 200 °C. The distance between sputtered target and the Corning 1737...