Filters
total: 73
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (57)
Search results for: FAULT DIAGNOSIS IN ELECTRONIC CIRCUITS
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Katedra Metrologii i Systemów Informacyjnych
Research Potential* Diagnostyka silników elektrycznych i magnesów nadprzewodzących * Metody pomiaru impedancji zwarciowej * Zastosowania modulowanych częstotliwościowo sygnałów impulsowych * Pomiary dla diagnostyki medycznej * Ocena niepewności pomiaru * Zastosowanie grafenu do wykrywania elektronicznego
-
Katedra Automatyki Napędu Elektrycznego i Konwersji Energii
Research Potential* nieliniowe sterowanie maszynami elektrycznymi * napędy elektryczne o sterowaniu bez czujnikowym * sterowanie przekształtnikami energoelektronicznymi, w tym przekształtnikami na średnie napięcia i przekształtnikami sieciowymi * energoelektroniczne układy przetwarzania energii w odnawialnych źródłach energii * projektowanie i badanie falowników i przetwornic * projektowanie układów sterowania mikroprocesorowego z wykorzystaniem...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (16)
Search results for: FAULT DIAGNOSIS IN ELECTRONIC CIRCUITS
-
Laboratorium Automatyki Napędu Elektrycznego
Business OfferProgramowalne układy napędowe zasilane przekształtnikowo ze sterowaniem mikroprocesorowym
-
Laboratorium Wysokich Napięć
Business OfferBadania układów probierczych i pomiarowych stosowanych w technice wysokiego napięcia
-
FPGA/VHDL
Business Offer
Other results Pokaż wszystkie wyniki (110)
Search results for: FAULT DIAGNOSIS IN ELECTRONIC CIRCUITS
-
A neural network based system for soft fault diagnosis in electronic circuits
PublicationW artykule przedstawiono system do diagnostyki uszkodzeń parametrycznych w układach elektronicznych. W systemie zaimplementowano słownikową metodę lokalizacji uszkodzeń, bazującą na pomiarach w dziedzinie częstotliwości przeprowadzanych za pomocą analizatora transmitancji HP4192A. Rozważono główne etapy projektowania systemu: definiowanie modelu uszkodzeń, wybór optymalnych częstotliwosci pomiarowych, ekstrakcję cech diagnostycznych,...
-
Fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in 3-D and 4-D spaces
PublicationPrzedstawiono ideę nowych metod diagnostycznych 3-D i 4-D opartych na przek-ształceniu biliniowym. Metody te bazują na transformacjach operujących odpo-wiednio w trzy i czterowymiarowych przestrzeniach funkcji układowych. Dlatych metod omówiono algorytm lokalizacji i identyfikacji pojedynczych uszko-dzeń parametrycznych w liniowych układach elektronicznych oraz algorytm lo-kalizacji i identyfikacji pojedynczych uszkodzeń...
-
On fault diagnosis of analogue electronic circuits based on transformations in multi-dimensional spaces.
PublicationPrzedstawiono ideę nowej klasy metod diagnostycznych opartej na przekształceniu transformującym zmiany parametru układu na krzywe identyfikacyjne w przestrzeniach wielowymiarowych. Rozszerzono również klasę tych metod na diagnostykę uszkodzeń wielokrotnych. Dla takich metod omówiono algorytm lokalizacji i identyfikacji pojedynczych i wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych w liniowych układach elektronicznych. Przedstawiono rezultaty...
-
New Two-center Ellipsoidal Basis Function Neural Network for Fault Diagnosis of Analog Electronic Circuits
PublicationIn the paper a new fault diagnosis-oriented neural network and a diagnostic method for localization of parametric faults in Analog Electronic Circuits (AECs) with tolerances is presented. The method belongs to the class of dictionary Simulation Before Test (SBT) methods. It utilizes dictionary fault signatures as a family of identification curves dispersed around nominal positions by component tolerances of the Circuit Under Test...
-
Fault detection in electronic circuits using test buses
PublicationA survey of test buses designed for diagnostics of digital and analog electronic circuits is presented: the IEEE 1149.1 bus for digital circuits, the IEEE 1149.4 bus for mixed-signal and the IEEE 1149.6 bus for AC coupled complex digital circuits. Each bus is presented with its structure, solution of key elements, particularly boundary registers and a set of test instructions. Diagnosis with the use of the described buses is...