Filters
total: 98
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (80)
Search results for: FUNCTIONAL TEST
-
Zespół Katedry Równań Różniczkowych i Zastosowań Matematyki
Research Potential* topologiczne niezmienniki w teorii układów dynamicznych i ich zastosowania * teoria punktów stałych i periodycznych * metody matematyczne w kardiologii * miary złożoności i ich zastosowania * modele strukturalne z dyfuzją i warunkami brzegowymi Fellera * modelowanie ekspresji genu białka Hes1 * równania McKendrick-von Foerster z warunkiem odnowy * modelowanie termicznej ablacji za pomocą równania bio-przewodnictwa ciepła * soczewkowanie...
-
Zespół Katedry Automatyki
Research PotentialMikroprocesorowe urządzenia pomiarowo-rejestrujące i systemy monitorowania wykorzystujące technologie sieciowe, systemy sterowania urządzeniami i procesami technologicznymi. Systemy sterowania w obiektach energetyki odnawialnej, skupionych i rozproszonych. Modelowanie i symulacja obiektów dynamicznych, procesów oraz systemów sterowania i kontroli; projektowanie interfejsów operatorskich. Systemy elektroenergetyczne i automatyki...
-
Zespół Technologii Sieciowych i Inżynierii Bezpieczeństwa
Research Potential1. Analizy bezpieczeństwa funkcjonalnego infrastruktury krytycznej; 2. Modelowanie, synteza oraz projektowanie systemów monitorowania, sterowania i automatyki zabezpieczeniowej z wykorzystaniem techniki mikroprocesorowej, sterowników programowalnych PLC i systemów informatycznych; 3. Diagnostyka i zarządzanie procesami eksploatacji systemów technicznych.
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (18)
Search results for: FUNCTIONAL TEST
-
Laboratorium Konstrukcji Oceanotechnicznych
Business OfferBadania mechaniczne, badania zmęczeniowe, badania metalograficzne, badania całych węzłów konstrukcyjnych, pomiary wytężenia rzeczywistych konstrukcji
-
FPGA/VHDL
Business Offer -
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Business OfferZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
Other results Pokaż wszystkie wyniki (708)
Search results for: FUNCTIONAL TEST
-
A method of Functional Test interval selection with regards to Machinery and Economical aspects
PublicationThis paper discusses the problem of choosing the optimal frequency of functional test, including the reliability calculations and production efficiency, but also the effect of company risk management. The proof test as a part of the functional test interval is well described for the process industry. Unfortunately, this situation is not the case for the machinery safety functions with low demand mode. Afterwards, it is presented...
-
The Method of Selecting the Interval of Functional Tests Taking into Account Economic Aspects and Legal Requirements
PublicationThe article discusses the problem of choosing the optimal frequency of functional tests, taking into account the reliability and law requirements, but also the impact of business aspects in the company. The subject of functional test interval is well described for purposes of the process industry. Unfortunately, this is not the case for the machinery safety functions with low demand mode. This is followed by a presentation of the...
-
From Functional Requirements through Test Evaluation Design to Automatic Test Data Retrieval – a Concept for Testing of Software Dedicated for Hybrid Embedded Systems
PublicationFrom Functional Requirements through Test Evaluation Design to Automatic Test Data Retrieval – a Concept for Testing of Software Dedicated for Hybrid Embedded Systems
-
Two‐functional μBIST for Testing and Self‐Diagnosis of Analog Circuits in Electronic Embedded Systems
PublicationThe paper concerns the testing of analog circuits and blocks in mixed‐signal Electronic Embedded Systems (EESs), using the Built‐in Self‐Test (BIST) technique. An integrated, two‐functional, embedded microtester (μBIST) based on reuse of signal blocks already present in an EES, such as microprocessors, memories, ADCs, DACs, is presented. The novelty of the μBIST solution is its extended functionality. It can perform 2 testing functions:...
-
A solution of the integrated µBIST for functional and diagnostic testing in mixed-signal electronic embedded systems
PublicationMain problem of the paper is testing of analog circuits and blocks in mixed-signal electronic embedded systems (EESs), using the built-in self-test (BIST) technique. The integrated mBIST based on reusing signal blocks already present in an EES, such as processors, memories, ADCs, is presented. The novelty of the solution is the extended functionality of the mBIST. It can perform 2 testing functions: functional testing and fault...