Search
Filters
total: 144
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (108)
Search results for: LOW NOISE INSTRUMENTATION
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Katedry Konstrukcji Maszyn i Pojazdów
Research Potential* Badania własności smarów i cieczy technicznych * Badania tarcia i zużycia elementów maszyn - dobór materiałów na współpracu-jące elementy, dobór środków smarowych, dobór alternatywnych materiałów umożliwiających pracę bez smarowania lub przy smarowaniu wodą * Badania diagnostyczne maszyn i urządzeń, badania trwałości i niezawodności * Projektowanie i optymalizacja konstrukcji nietypowych maszyn i urządzeń * Projektowanie urządzeń...
-
Zespół Systemów Mikroelektronicznych
Research Potential* projektowania I optymalizacji układów i systemów mikroelektronicznych * zaawansowane metody projektowania i optymalizacji analogowych filtrów aktywnych * programowanie układów scalonych (FPGA, CPLD, SPLD, FPAA) * układy specjalizowane ASIC * synteza systemów o małym poborze mocy * projektowanie topografii układów i zagadnień kompatybilności elektromagnetycznej * modelowania przyrządów półprzewodnikowych * modelowania właściwości...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (36)
Search results for: LOW NOISE INSTRUMENTATION
-
FPGA/VHDL
Business Offer -
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Business OfferStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
-
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Business OfferZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
Other results Pokaż wszystkie wyniki (4481)
Search results for: LOW NOISE INSTRUMENTATION
-
Measurement of noise parameter set in the low frequency range: requirements and instrumentation.
PublicationOpisano dwa podstawowe szumowe modele metrologiczne czwórnika: ze źródłami szumów odniesionymi do wejścia i ze zwarciowymi prądami szumów. Parametry szumowe opisujące modele zawierające korelację pomiędzy prądami i/lub napięciami są mierzone przy zastosowaniu metod bezpośrednich i pośrednich. Przedstawiono kilka technik redukcji szumów własnych systemu pomiarowego. Szerzej zaprezentowano dwukanałowy system do pomiaru szumów z komputerowym...
-
Poroelastic Low Noise Road Surfaces
PublicationNoise is one of the most important problems related to road traffic. During the last decades, noise emitted by engine and powertrain of vehicles was greatly reduced and tyres became a clearly dominant noise source. The paper describes the concept of low noise poroelastic road surfaces that are composed with mineral and rubber aggregate bound by polyurethane resin. Those surfaces have a porous structure and are much more flexible...
-
The Low-frequency Noise of SiC MESFETs
PublicationPrzedstawiono system do pomiaru szumów małoczestotliwościowych tranzystorów SiC MESFET oraz przykładowe wyniki pomiarów.
-
Noise measurements on low noise pavements - problems with inhomogeneity of wearing course
PublicationDuring the last several years, when performing numerous CPX noise measurements on low noise pavements,significant inhomogeneity of the wearing course was observed in numerous cases. Similar problems were almost not existing regarding to the dense pavements.In general three main reasons of inhomogeneity can be defined. The first one are imperfections in technology of production of a asphalt mix or/and errors made already during...
-
Noise modeling of static CMOS gates for low-noise circuit synthesis
PublicationW artykule przedstawiono efektywną metodę modelowania widma szumu napięcia zasilającego generowanego przez statyczne bramki cyfrowe CMOS. Metoda modelowania uwzględnia krótkie impulsy prądowe powstające w czasie przełączania bramek i pozwala oszacować górne limity widma szumu napięcia zasilającego co umożliwia niskoszumową syntezę układów cyfrowych.