Search
Filters
total: 122
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (86)
Search results for: POMIAR GRUBOŚCI WARSTW
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Inżynierii Spajania
Research PotentialSpawalność i ocena trwałości eksploatacyjnej materiałów konstrukcyjnych
-
Zespół Materiałów Konstrukcyjnych
Research PotentialKształtowanie własności materiałów konstrukcyjnych i opis ich środowiskowej degradacji
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (36)
Search results for: POMIAR GRUBOŚCI WARSTW
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Business OfferStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
-
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Business OfferZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
-
Laboratorium Fizyki i Elektrodynamiki
Business OfferPodstawowe zjawiska fizyczne i informatyczne systemy rozproszone
Other results Pokaż wszystkie wyniki (1374)
Search results for: POMIAR GRUBOŚCI WARSTW
-
Pomiary grubości cienkich warstw metodą modulacji chromatycznej.
PublicationTematem artykułu jest pomiar grubości struktur cienkowarstwowych szerokostosowanych w optoelektronice, transparentnych warstw dielektrycznych. Grubość jest najistotniejszym parametrem warstwy i determinuje jej właściwościoptyczne. Metoda pomiaru grubości cienkich warstw powinna być bezkontaktowa, nieniszcząca, niekosztowna oraz odporna na zakłócenia
-
Badanie rozkładu grubości powierzchni cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej
Publication -
Optoelektroniczne metody pomiaru grubości cienkich transparentnych warstw wytwarzanych w procesach próżniowych.
PublicationW artykule opisano problemy związane z określaniem grubości cienkich transparentnych warstw dielektrycznych, syntetyzowanych w procesach próżniowych. Przedstawiono stosowane metody pomiarowe, szczególny nacisk kładąc na techniki optoelektroniczne, oparte na badaniu interferencji i zmiany stanu polaryzacji światła w wyniku oddziaływania z cienką warstwą oraz na analizie spektralnej. Opisano praktyczne układy, umożliwiające pomiary...
-
Wpływ współczynnika promienia walca i stosunku grubości warstw na odkształ- cenie warstwy twardej. The influence of radius of rolls coefficient and re-lations of thickness layers at the deformation of hard layers of bimetalic plate
PublicationW pracy przedstawiono analizę numeryczną walcowania blachy platerowanej 18 G2A i 0H18N10T. Wytwarzanie blach dwuwarstwowych jest procesem trudnym do rozwiązania na drodze teoretycznej. Do analizy procesu wykorzystano program Forge 2 oparty na teorii elementów skończonych. Artykuł przedstawia wpływ wartości współczynnika promienia walcaH/R i stosunku grubości warstw HT/HM na charakter rozkładu odkształceń blachy dwuwarstwowej.
-
Zastosowanie interferometrii niskokoherentnej do jednoczesnego pomiaru grubości i współczynnika załamania struktur warstwowych
PublicationW pracy przedstawiono techniki oparte na interferometrii niskokoherentnej jednoczesnego pomiaru współczynnika załamania i grubości struktur warstwowych. Zaproponowano dwie metody: pierwsza oparta jest na pomiarze położenia górnej powierzchni granicznej warstwy i jej grubości optycznej (położenie dolnej powierzchni granicznej powinno być znane wcześniej); druga oparta jest na wykorzystaniu dynamicznego ogniskowania wiązki laserowej....