Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (7)
Search results for: SZUMY: STRUKTURA
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Systemów Decyzyjnych i Robotyki
Research PotentialAutomatyka i Robotyka, która posiada silne posadowienie w matematycznej Teorii Systemów i Teorii Sterowania, już w połowie ubiegłego stulecia zaistniała w powszechnej świadomości jako Cybernetyka, która – kontynuując czerpanie wiedzy ze zjawisk istniejących w świecie natury – przekształciła się w Sztuczną Inteligencję, ciągle nie przestaje być dynamicznie rozwijającą się dziedziną z gruntu interdyscyplinarną, łączącą wiedzę i umiejętności...
-
Katedra Metrologii i Systemów Informacyjnych
Research Potential* Diagnostyka silników elektrycznych i magnesów nadprzewodzących * Metody pomiaru impedancji zwarciowej * Zastosowania modulowanych częstotliwościowo sygnałów impulsowych * Pomiary dla diagnostyki medycznej * Ocena niepewności pomiaru * Zastosowanie grafenu do wykrywania elektronicznego
Other results Pokaż wszystkie wyniki (3)
Search results for: SZUMY: STRUKTURA
-
Techniques of interference reduction in probe system for wafer level noise measurements of submicron semiconductor devices.
PublicationPrzedstawiono skrótowo system do ostrzowych pomiarów szumów struktur submikronowych. Znaczny wpływ na pomiary ostrzowe mają zakłócenia i szumy własne systemu, zwłaszcza zakłócenia o wysokim poziomie wpraowadzane przez ostrza (fluktuacje rezystancji styków ostrza do struktury powodowane przez wibracje i udary mechaniczne w środowisku pomiarowym)i środowisko elektromagnetyczne. Zakłócenia okresowe powodowane przez wibracje i pola...
-
A method of two-terminal excess noise measurement with a reduction of measurement system and contact noise
PublicationPrzedstawiono metodę i system do pomiaru szumów nadmiarowych dwójników elektrycznych ze znaczną redukcją wpływu szumów własnych systemu pomiarowego i szumów kontaków. Proponowana metoda może byc zastosowana do pomiaru szumów elementów z wyprowadzonymi końcówkami, bądź też struktur, gdy jako wzorcowy szum odniesienia może zostać zastosowany szum struktury rezystywnej wytworzonej bezpośrednio na strukturze w otoczeniu elementu testowanego.
-
Fluctuation phenomena in semiconductor gas sensors
PublicationCzujniki gazu mogą być wytwarzane z cienkiej warstwy półprzewodnika, która po podgrzaniu do odpowiedniej temperatury staje się czuła na gaz. Zjawisko to jest dobrze znane i szeroko opisane w literaturze. Jako wskaźnik detekcji gazu wykorzystuje się zmianę rezystancji stałoprądowej czujnika. Zwiększenie czułości i, co najważniejsze z praktycznego punktu widzenia, selektywności dyskryminacji można uzyskać jeśli warstwa półprzewodnika...