Filters
total: 28
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (25)
Search results for: cienka ciekla warstwa
-
Zespół Sieci Teleinformacyjnych
Research PotentialDzisiejsza telekomunikacja przechodzi bardzo szybkie i radykalne zmiany wynikające nie tylko z szybkiego postępu technologicznego ale też z potrzeb społeczeństwa informacyjnego. Informacja stała się dobrem, które ma istotny wpływ na kierunek i szybkość zmian kulturowych i materialnych w globalizującym się świecie. Zatem wyzwania, jakie stoją przed telekomunikacją, a tym samym wobec każdego, kto zajmuje się i planuje działać w tym...
-
Zespół Fizyki Ciała Stałego
Research PotentialTematyka badawcza Katedry Fizyki Ciała Stałego obejmuje wytwarzanie i badanie materiałów dla energetyki (m.in. nanostruktury, sensory) o innowacyjnych właściwościach fizyko-chemicznych, tj: * kryształy, polikryształy, ceramika, szkło * materiały objętościowe, cienkie warstwy, nanomateriały * materiały metaliczne, półprzewodnikowe, nadprzewodnikowe, izolatory Tematyka badawcza obejmuje również badania symulacyjne i obliczeniowe...
-
Katedra Technologii Chemicznej
Research PotentialTechnologie gazu z łupków
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (3)
Search results for: cienka ciekla warstwa
-
Laboratorium Badawcze 2-3
Business OfferObliczenia komputerowe wymagające dużych mocy obliczeniowych z wykorzystaniem oprogramowania typu: Matlab, Tomlab, Gams, Apros.
-
Centrum Civitroniki – Centrum Zaawansowanych Technologii
Business OfferCentrum Civitroniki działa na Wydziale Inżynierii Lądowej i Środowiska Politechniki Gdańskiej. W skład Centrum Cicitroniki wchodzą następujące pracownie:Pracownia DIM-Tefal, Pracownia defektorskopii, badań materiału i konstrukcji metalowych, Pracownia geodezyjnego monitorowania budowli inżynierskich, Pracownia badań drogowych, Pracownia fizyki budowli oraz Nazwa Civitronika jest wynikiem połączenia wyrażeń: „civil engineering”...
-
Laboratorium Źródeł Energii w Katedrze Konwersji i Magazynowania Energii
Business Offer
Other results Pokaż wszystkie wyniki (96)
Search results for: cienka ciekla warstwa
-
Superconducting lead granular layer prepared by reducting in hydrogen lead of germanate glass
PublicationCienka warstwa granul Pb została wytworzona poprzez wygrzewanie w wodorze, w wysokiej temperaturze. Struktura i nadprzewodzące właściwości warstwy ołowiu zależą od temperatury i czasu redukcji. Artykuł analizuje wpływ warunków redukcji na wytworzoną warstwę granul Pb.
-
Badanie właściwości fotoelektrycznych cienkich warstw tlenków TiO2:V na zautomatyzowanym stanowisku dla metody obic
Publicationw rozdziale zaprezentowano wyniki badań właściwości fotoelektrycznych struktury tlenku tytanu domieszkowanego wanadem naniesionej na podłoże krzemowe. cienką warstwę tlenkową naniesiono w procesie rozpylania magnetronowego rozpylania magnetronowego. na podstawie badań stwierdzono występowanie efektu fotoelektrycznego na granicy cienka warstwa - podłoże krzemowe.
-
Hydrophilicity of TiO2 exposed to UV and VIS radiation
PublicationPo raz pierwszy cienka warstwa TiO2 znajdująca się na powierzchni Pilkington Glass AktivTM została poddana modyfikacji za pomocą amoniaku, tiomocznika i mocznika w celu przesunięcia widma absorpcji w kierunku światła widzialnego. Kąty zwilżania dla wody płytek szklanych Pilkington zostały zmierzone dla próbki niezmodyfikowanej i zmodyfikowanej, która odznaczała się zauważalnym przesunięciem spektrum absorpcyjnego w kierunku VIS.
-
Optical monitoring of thin oil film thickness in extrusion processes
PublicationPraca porusza problem pomiaru grubości cienkiej warstwy przyściennej -oleju, podczas procesu wyciskania ceramiki modelowej. Szczegółowo opisuje zjawiska fizyczne zachodzące w warstwie przyściennej oraz dynamiczne parametry wykorzystywane do oceny grubości. Autorzy opisują także metodę pomiaru oraz konstrukcję układów pomiarowych.
-
Wytłaczanie past ceramicznych - optyczny monitoring poślizgu przyściennego
PublicationPrzedmiotem niniejszej pracy jest optyczna metoda spektroskopii reflektancyjnej do pomiaru in situ grubości warstwy przyściennej w procesie wytłaczania past ceramicznych, którą można stosować bez zakłócania przebiegu procesu. Może ona znaleźć zastosowanie do dostarczania danych w analizie i modelowaniu procesu wytłaczania, a także do kontroli on-line przebiegu procesu produkcyjnego.