Search
Filters
total: 20
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (17)
Search results for: magistrala testujaca
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Technologii Sieciowych i Inżynierii Bezpieczeństwa
Research Potential1. Analizy bezpieczeństwa funkcjonalnego infrastruktury krytycznej; 2. Modelowanie, synteza oraz projektowanie systemów monitorowania, sterowania i automatyki zabezpieczeniowej z wykorzystaniem techniki mikroprocesorowej, sterowników programowalnych PLC i systemów informatycznych; 3. Diagnostyka i zarządzanie procesami eksploatacji systemów technicznych.
-
Zespół Systemów Mikroelektronicznych
Research Potential* projektowania I optymalizacji układów i systemów mikroelektronicznych * zaawansowane metody projektowania i optymalizacji analogowych filtrów aktywnych * programowanie układów scalonych (FPGA, CPLD, SPLD, FPAA) * układy specjalizowane ASIC * synteza systemów o małym poborze mocy * projektowanie topografii układów i zagadnień kompatybilności elektromagnetycznej * modelowania przyrządów półprzewodnikowych * modelowania właściwości...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (3)
Search results for: magistrala testujaca
-
Laboratorium LINTE^2
Business OfferBadania w zakresie elektroenergetyki, energoelektroniki i przyłączania nowoczesnych źródeł energii do sieci elektroenergetycznej
-
Laboratorium Wysokich Napięć
Business OfferBadania układów probierczych i pomiarowych stosowanych w technice wysokiego napięcia
-
Laboratorium Badawcze 2-3
Business OfferObliczenia komputerowe wymagające dużych mocy obliczeniowych z wykorzystaniem oprogramowania typu: Matlab, Tomlab, Gams, Apros.
Other results Pokaż wszystkie wyniki (137)
Search results for: magistrala testujaca
-
Diagnostyka układów elektronicznych z magistralą testującą
PublicationWzrost złożoności i miniaturyzacji układów oraz urządzeń elektronicznych, przyczyniając się do polepszenia ich parametrów użytkowych i obniżania kosztów wytwarzania, wiąże się z niepożądanymi efektami ubocznymi, takimi jak wzrost kosztów aparatury pomiarowo-kontrolnej oraz wzrost pracochłonności, związanej z opracowaniem metod i programów testujących. Problemy te są inspiracją do rozwinięcia metod projektowania tzw. testowalnych...
-
Implementacja mikroserwerowa TCP/IP w systemie diagnostycznym bazującym na cyfrowej magistrali testujacej IEEE 1149.1
PublicationPrzedstawiono mikrosystem pomiarowo-diagnostyczny sterowany przez Internet i pozwalający na zdalne testowanie układów analogowych. Do realizacji mikrosystemu wykorzystano kontroler ethernetu RTL8019AS, mikrokontroler PIC18F4620 oraz wyposażony w magistralę IEEE 1149.1 i przetwornik analogowo-cyfrowy układ scalony SCANSTA476. Aplikacja pozwala na przeprowadzanie zdalnego pomiaru napięcia w 8 wybieranych programowo punktach. Obszarem...
-
Zastosowanie układów testowych STA 400 z magistralą testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych
PublicationPrzedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do diagnostyki wybranych struktur analogowych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę prototypowych układów scalonych typu STA400 opracowanych w końcu 2001 r. w firmie NationalSemiconductor i Logic Vision. Diagnostykę przeprowadzono metodą analityczną opartą na twierdzeniu Tellegena dla 3 i 5-elementowych...
-
Metody pomiaru elementów pasywnych z wykorzystaniem układów STA400 wyposażonych w magistralę testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4
PublicationPrzedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4 do pomiarów elementów pasywnych zamontowanych na pakietach elektronicznych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę prototypowych układów scalonych typu STA400. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4 oraz nowoopracowanymi metodami zorientowanymi na testowanie magistralowe. Zaprezentowano metodykę pomiarów...
-
Testowanie układów cyfrowych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.7
PublicationPrzedstawiono opracowaną w grudniu 2009 r. cyfrową magistralę testującą IEEE 1149.7 przeznaczoną do testowania i debuggingu wielordzeniowych układów wbudowanych. W stosunku do magistrali IEEE1149.1, której jest rozszerzeniem, magistrala IEEE1149.7 zapewnia zredukowaną do dwóch liczbę wyprowadzeń, możliwość pracy w konfiguracji gwiazdowej, indywidualne adresowanie urządzeń, eliminację ze ścieżki brzegowej nieaktywnych układów, zarządzanie...