Filters
total: 40
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (36)
Search results for: magistrale ulatwionego testowania
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Information Assurance Group (IAG)
Research PotentialGrupa koncentruje się na zarządzaniu ryzykiem i zaufaniem w odniesieniu do różnych cech oprogramowania i systemów informatycznych, np. Bezpieczeństwa, niezawodności i prywatności. Szczególnie interesujące jest pojęcie Trust Case i powiązanej metodologii Trust-it.
-
Katedra Marketingu
Research Potential* marketingu usług * marketingu relacji * badań marketingowych * kształtowania strategii marketingowej * analizy rynku * zarządzania wdrażaniem nowych produktów * marketingu przemysłowego * zarządzania i planowania marketingowego oraz zarządzania relacjami z klientami * kultury marketingowej * instrumentów marketingu - mix * systemów informacji marketingowej * rozwoju regionalnego i lokalnego w aspekcie działań marketingowych *...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (4)
Search results for: magistrale ulatwionego testowania
-
Superkomputer Tryton
Business OfferObliczenia dużej skali, Wirtualna infrastruktura w chmurze (IaaS), Analiza danych (big data)
-
Laboratorium Diagnostyki Silników i Sprężarek Tłokowych
Business OfferIdentyfikacja stanu technicznego głównych układów funkcjonalnych silników spalinowych i sprężarek w oparciu o wyniki badań diagnostycznych.
-
Laboratorium Badań Terenowych
Business Offerdiagnostyka obiektów mostowych i inżynierskich: badania in situ, próbne obciążenia, monitoring i identyfikacja konstrukcji, zaawansowane analizy teoretyczne i obliczeniowe
Other results Pokaż wszystkie wyniki (172)
Search results for: magistrale ulatwionego testowania
-
Zastosowanie magistrali testującej IEEE 1149.6 do diagnostyki układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo
PublicationPrzedstawiono magistralę ułatwionego testowania standardu IEEE 1149.6 przeznaczoną do diagnostyki złożonych układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Zaprezentowano metody transmisji sygnałów cyfrowych o b. wysokich częstotliwościach, a następnie przedstawiono rozwiązania kluczowych elementów magistrali: komórkę brzegowego rejestru wyjściowego z nadajnikiem sygnałów testowych oraz detektor sygnałów różnicowych o sprzężeniu pojemnościowym....
-
Metody projektowania ułatwiającego testowanie dla układów cyfrowych
PublicationPrzedstawiono przegląd metod ułatwiających testowanie DFT (Design for Testability) dla układów cyfrowych. Zaprezentowano metody stosowane na poziomie układów scalonych, pakietów oraz systemów elektronicznych. Pokazano heurystyczne metody projektowania pozwalające na zwiększenie sterowalności i obserwowalności układów oraz metody strukturalne, a wśród nich układy BILBO (Built-In Logic Block Observer), BIST (Built-In Self Test),...
-
Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących
PublicationPrzedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto...
-
Wyniki testowania probabilistycznych modeli procesu pomiarowego
PublicationPrzedstawiono wyniki testowania dwóch probabilistycznych modeli procesu pomiarowego – prostego oraz złożonego z etapów obserwacji i restytucji. Testowanie przeprowadzono za pomocą zestawu miar ryzyka. W wyniku testów modelu dwuetapowego wykryto efekt kumulowania się prawdopodobieństwa na krańcach zakresu pomiarowego podczas inwersji funkcji rozkładu warunkowego, pogarszający dokładność oceny ryzyka dla większych wartości niepewności...
-
Strategie testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych
PublicationPraca dotyczy testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych metodami zorientowanymi na uszkodzenia. Omówiono źródła i klasyfikację uszkodzeń, strategie testowania wykorzystujące nadmiarowość analityczną i sprzętową, wewnątrzobwodowe testowanie pakietów elektronicznych oraz zastosowanie algorytmów klasyfikacji obrazów do lokalizacji uszkodzeń. Wynikiem prac w zakresie metod analitycznych jest opracowanie przyspieszonej...