Search results for: pomiary I/V - Bridge of Knowledge

Search

Search results for: pomiary I/V

Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (65)

Search results for: pomiary I/V

Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (13)

Search results for: pomiary I/V

Other results Pokaż wszystkie wyniki (202)

Search results for: pomiary I/V

  • Pomiary szumów i zakłóceń

    Publication

    - Year 2003

    Praca zawiera uzasadnienie potrzeby doskonalenia techniki pomiarów szumów i zakłóceń, zwłaszcza sygnałów losowych - zarówno ergodycznych jak i niestacjonarnych, z wykorzystaniem sprzętu komputerowego. Przedstawione zostały uwarunkowania aparaturowe mające zasadniczy wpływ na algorytmiczne wyznaczanie wielkości charakteryzujących szumy i zakłócenia po procesie ich digitalizacji. Podane zostały także przykładowe zastosowania wspomaganych...

  • Informatics, Control, Measurement in Economy and Environmental Protection

    Journals

    ISSN: 2083-0157 , eISSN: 2391-6761

  • Modelowanie i pomiary nagłośnienia audytorium

    Uwaga projektantów systemów nagłośnieniowych zogniskowana jest na tzw. akustyce pomieszczenia, w którym realizowany jest przekaz słowny. Zjawiska pogłosowe związane z geometrią sali audytoryjnej, wynikające z wielokrotnych odbić fali dźwiękowej uznawane są za dominujące. Artykuł podejmuje niedoceniany problem wpływu liczby i rozmieszczenia głośników w sali na jakość przekazu. Superpozycji sygnałów dochodzących do słuchacza z wielu...

    Full text available to download

  • Abandoned places I-V, akryl 100x70

    Publication

    - Year 2010

    Międzynarodowa wystawa zbiorowa malarstwa, fotografii i tkaniny, zorganizowana pod egidą Ambasad: Brazylii, Bułgarii, Łotwy, Mozambiku, Meksyku, Panamy, Polski i Południowej Afryki.

  • Pomiary i analiza wielkości mikroziaren ściernych.

    Publication

    - Mechanik - Year 2019

    Omówiono skomputeryzowana analizę wielkości i kształtu mikroziaren ściernych. W badaniach mikroziaren węglika boru, czarnego i zielonego weglika krzemu oraz elektrokorundu zwykłego i szlachetnego stosowano mikroskopię optyczną oraz oprogramowanie MultiScan.

    Full text available to download