W pracy przedstawiono wyniki badań cienkich warstw TiO2 przy wykorzystaniu dyfrakcji rentgenowskiej i anihilacji pozytonów. Warstwy były wytwarzane różnymi metodami. Badania pozwalają na określenie optymalnych, z punktu widzenia późniejszych zastosowań, parametrów warstw.

W publikacji podano wyniki badań metodą anihilacji pozytronów szkieł bizmutowo-krzemianowych, bizmutowo-germanianowych i ołowiowo-krzemianowych. Stwierdzono istnienie defektów wywołanych redukcją w atmosferze wodoru. Przeprowadzono analizę głębokości występowania defektów oraz ich rozmiarów.

W pracy badano elektrycznopolową dysocjację ekscytonów i wygaszanie ekscytonów na nośnikach ładunku elektrycznego w organicznym kompleksie irydu (III), umieszczonego w matrycy poliwęglan : dwuamina TPD. Proces dysocjacji ekscytonów jest zgodny z trójwymiarowym modelem Onsagera. Analiza ilościowa wygaszenia ładunkowego fotoluminescencji pozwoliła wyznaczyć stałe oddziaływania ekscyton - ładunek elektryczny.

Techniki pozytonowe dają możliwości badania defektów i zmian strukturalnych nie obserwowanych innymi metodami. W tej pracy zastosowano 3 różne techniki pozytonowe do badania zmian strukturalnych i tworzenia wydzieleń SiOx w krzemie.

W pracy zaobserwowano silne wygaszenie fotoluminescencji pod wpływem zewnętrznego pola elektrycznego w organicznym kompleksie europu Eu(III). Wygaszenie fotoluminescencji przypisano elektrycznopolowej dysocjacji ekscytonów oraz anihilacji ekscytonów na wstrzykniętym do próbki ładunku elektrycznym.