Filters
total: 50
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (41)
Search results for: MAGISTRALA TESTUJĄCA IEEE 11497
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Teleinformatyki
Research PotentialDziałalność dydaktyczna katedry związana jest z teorią informacji, metodami probabilistycznymi, statystyką matematyczną oraz szeroką gamą przedmiotów z obszaru organizacji pracy , oceny wydajności, zarządzania i projektowania sieci komputerowych. Katedra prowadzi w tym obszarze specjalność Sieci Komputerowe - oferowaną dla studentów kierunku Informatyka.* projektowania i oceny efektywności przewodowych i bezprzewodowych sieci LAN,...
-
Zespół Systemów i Sieci Radiokomunikacyjnych
Research PotentialAktualnie zespół Katedry prowadzi działalność badawczą w dziedzinie szeroko rozumianej radiokomunikacji, przy czym do najważniejszego nurtu naszej działalności zaliczamy badania systemowe w następujących obszarach: trendy rozwojowe współczesnej radiokomunikacji obejmujące systemy LTE, nowe interfejsy radiowe oraz zarządzanie zasobami radiowymi, radio programowalne określane skrótowo nazwą SDR (Software Defined Radio), zwłaszcza...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (9)
Search results for: MAGISTRALA TESTUJĄCA IEEE 11497
-
Laboratorium Analiz Pracy Systemów Elektroenergetycznych
Business OfferModelowanie i analiza stanów pracy systemu elektroenergetycznego, w oparciu o specjalistyczne oprogramowanie
-
Brain and Mind Electrophysiology lab
Business OfferNeurofizjologia pamięci i funkcji poznawczych mózgu
-
Laboratorium LINTE^2
Business OfferBadania w zakresie elektroenergetyki, energoelektroniki i przyłączania nowoczesnych źródeł energii do sieci elektroenergetycznej
Other results Pokaż wszystkie wyniki (1578)
Search results for: MAGISTRALA TESTUJĄCA IEEE 11497
-
Testowanie układów cyfrowych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.7
PublicationPrzedstawiono opracowaną w grudniu 2009 r. cyfrową magistralę testującą IEEE 1149.7 przeznaczoną do testowania i debuggingu wielordzeniowych układów wbudowanych. W stosunku do magistrali IEEE1149.1, której jest rozszerzeniem, magistrala IEEE1149.7 zapewnia zredukowaną do dwóch liczbę wyprowadzeń, możliwość pracy w konfiguracji gwiazdowej, indywidualne adresowanie urządzeń, eliminację ze ścieżki brzegowej nieaktywnych układów, zarządzanie...
-
Zastosowanie magistrali testującej IEEE 1149.6 do diagnostyki układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo
PublicationPrzedstawiono magistralę ułatwionego testowania standardu IEEE 1149.6 przeznaczoną do diagnostyki złożonych układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Zaprezentowano metody transmisji sygnałów cyfrowych o b. wysokich częstotliwościach, a następnie przedstawiono rozwiązania kluczowych elementów magistrali: komórkę brzegowego rejestru wyjściowego z nadajnikiem sygnałów testowych oraz detektor sygnałów różnicowych o sprzężeniu pojemnościowym....
-
Diagnostyka układów analogowych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4
PublicationW pracy przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych. Diagnostykę przeprowadzono metodą analityczną opartą na twierdzeniu Tellegena, metodą oscylacyjną oraz metodą transformacji biliniowej. W badaniach użyto prototypowych układów scalonych typu MNABST-1 firmy Matsushita wyposażonych w magistralę. Do pomiarów zastosowano wektorowego oraz multimetr...
-
Diagnostyka układów elektronicznych z magistralą testującą
PublicationWzrost złożoności i miniaturyzacji układów oraz urządzeń elektronicznych, przyczyniając się do polepszenia ich parametrów użytkowych i obniżania kosztów wytwarzania, wiąże się z niepożądanymi efektami ubocznymi, takimi jak wzrost kosztów aparatury pomiarowo-kontrolnej oraz wzrost pracochłonności, związanej z opracowaniem metod i programów testujących. Problemy te są inspiracją do rozwinięcia metod projektowania tzw. testowalnych...
-
Metody pomiaru elementów pasywnych z wykorzystaniem układów STA400 wyposażonych w magistralę testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4
PublicationPrzedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4 do pomiarów elementów pasywnych zamontowanych na pakietach elektronicznych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę prototypowych układów scalonych typu STA400. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4 oraz nowoopracowanymi metodami zorientowanymi na testowanie magistralowe. Zaprezentowano metodykę pomiarów...