Filters
total: 133
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (98)
Search results for: MIKROSYSTEMY POMIAROWE
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Katedra Metrologii i Systemów Informacyjnych
Research Potential* Diagnostyka silników elektrycznych i magnesów nadprzewodzących * Metody pomiaru impedancji zwarciowej * Zastosowania modulowanych częstotliwościowo sygnałów impulsowych * Pomiary dla diagnostyki medycznej * Ocena niepewności pomiaru * Zastosowanie grafenu do wykrywania elektronicznego
-
Katedra Elektroenergetyki
Research Potential* ochrona i bezpieczeństwo pracy systemu elektroenergetycznego, * stabilność sterowanie pracą systemu elektroenergetycznego, * kompleksowe modelowanie systemów elektroenergetycznych oraz szczegółowe modele elementów systemu, * urządzenia FACTS i systemy HVDC w systemach elektroenergetycznych, * odnawialne źródła energii w systemach elektroenergetycznych, * urządzenia i instalacje elektryczne, * optymalizacja struktury i parametrów...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (35)
Search results for: MIKROSYSTEMY POMIAROWE
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Business OfferStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
-
Laboratorium Wysokich Napięć
Business OfferBadania układów probierczych i pomiarowych stosowanych w technice wysokiego napięcia
-
Laboratorium Inżynierii Jakości LAB Q
Business Offer1. Six sigma – podstawy 2. Six Sigma – wybrane narzędzia (m.in. analiza rozkładu - rozkład normalny/dwumianowy, normalizacja rozkładu – centralne twierdzenie graniczne) 3. Six Sigma - testowanie hipotez (rozróżnianie grup komponentów na podstawie pomiarów i analizy statystycznej) z wykorzystaniem programu Minitab 4. Analiza systemów pomiarowych (MSA) dla pomiarów powtarzalnych z wykorzystaniem programu Minitab (m.in. Gage R&R...
Other results Pokaż wszystkie wyniki (2269)
Search results for: MIKROSYSTEMY POMIAROWE
-
Implementacja algorytmu szybkiej transformacji falkowej w mikrosystemie pomiarowym
PublicationReferat zawiera opis implementacji algorytmu Szybkiej Transformacji Falkowej w mokrosystemie badawczo-dydaktycznym. Stanowi on podsumowanie pracy mającej na celu zweryfikowanie przydatności tanich mikrokontrolerów do obróbki danych pomiarowych z zastosowaniem Transformacji Falkowej. W referacie zawarto skrótowy opis optymalizacji algorytmu Transformacji Falkowej dla potrzeb mikrokontrolera, na który składa się jego przyspieszenie...
-
Microsystems & Nanoengineering
Journals -
MICROPROCESSORS AND MICROSYSTEMS
Journals -
Measurement microsystem for high impedance spectroscopy of anticorrosion coatings
PublicationW artykule przedstawiono mikrosystem do pomiarów bardzo dużych impedancji ukierunkowany na identyfikację parametrów powłok antykorozyjnych metodą spektroskopii impedancyjnej. Do wyznaczania składowych ortogonalnych sygnałów pomiarowych zastosowano w nim technikę cyfrowego przetwarzania sygnałów. Pozwoliła ona na uzyskanie szerokiego zakresu częstotliwości pomiarowych, zwłaszcza bardzo niskich, od ćHz, przy zachowaniu prostej konstrukcji...
-
Lokalizacja rozjazdów w plikach wyników pomiarów uzyskiwanych z drezyny pomiarowej EM-120
PublicationPliki z wynikami pomiarów wykonywanych za pomocą drezyny pomiarowej EM-120 zawierają m.in. informacje o lokalizacji w torze lub jego pobliżu charakterystycznych punktów stałych: mostów, przejazdów kolejowo-drogowych, rozjazdów, semaforów i stacji. Dla oceny postępu degradacji toru w trakcie jego eksploatacji szczególne znaczenie mają informacje o położeniu rozjazdów. W referacie przedstawiono obecnie stosowany sposób wprowadzania...