Search
dr hab. inż. Grzegorz Lentka
Employment
- Vice-Dean for Organization of Studies at Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics
- Associate professor at Department of Metrology and Optoelectronics
Publications
Filters
total: 72
Catalog Publications
Year 2007
-
Frequencies selection for accelerated cnls parameter identification of anticorrosion coatings
PublicationArtykuł przedstawia zmodyfikowaną metodę CNLS dopasowywania widma impedancyjnego dla identyfikacji parametrów obiektów technicznych. Liczba częstotliwości pomiarowych została ograniczona do liczby identyfikowanych parametrów, a ich wartości są dobierane w oparciu o różne kryteria. Jako obiekt testowy wybrano model powłoki antykorozyjnej. Wyniki symulowanej identyfikacji przeanalizowano pod kątem dokładności i zmniejszenia czasu...
-
New concept of a measurement probe for high impedance spectrocopy
PublicationArtykuł przedstawia nową koncepcję sondy pomiarowej służącej jako obwód wejściowy analizatora do spektroskopii wysokoimpedancyjnej. Dzięki wykorzystaniu przetwornika prąd na napięcie uzyskano najmniejszy możliwy wpływ pojemności kabli dołączających mierzony obiekt na wynik pomiaru. Przeprowadzono analizę sondy biorąc pod uwagę najważniejsze parametry wpływające na dokładność pomiaru: pojemności pasożytnicze oraz rzeczywiste parametry...
-
Ograniczenia wirtualnego miernika impedancji opartego na karcie akwizycji danych
PublicationW artykule przedstawiono wirtualny miernik parametrów elementów RLC, zrealizowany w oparciu o komputer PC z zainstalowana kartą akwizycji danych(PCI-6040E) wyposażoną w przetworniki a/c i c/a. Analizowano właściwości metrologiczne miernika zależne od parametrów zastosowanej karty. Przeprowadzono badania symulacyjne błędu pomiaru pojemności uwzględniajace rozdzielczośc i częstotliwośc próbkowania przetwornika a/c oraz jego czas...
Year 2006
-
Analizator do elektrochemicznej spektroskopii impedancyjnej
PublicationW artykule przedstawiono metode pomiaru impedancji oparta na próbkowaniu i cyfrowym przetwarzaniu sygnałów pomiarowych w zastosowaniu do elektrochemicznej spektroskopii impedancyjnej. Metoda została zaimplementowana w analizatorze EIS składającym się z potencjostatu, generatora z cyfrowa syntezą częstotliwości i woltomierza wektorowego. Omówiono podstawy teoretyczne metody pomiaru impedancji i konstrukcji analizatora EIS. Zaprezentowano...
-
Analizator do spektroskopii wysokoimpedancyjnej wykorzystujący DFT w detekcji fazoczułej
PublicationW pracy przedstawiono metodę pomiaru impedancji opartą na próbkowaniu sygnałów oraz wyznaczaniu ich parametrów z zastosowaniem algorytmów cyfrowego przetwarzania sygnałów. Zastosowano dyskretną transformację Fouriera do wyznaczania składowych ortogonalnych sygnałów pomiarowych. Przeprowadzono analizę dokładności pomiaru impedancji uwzględniającą rozdzielczośc przetworników a/c, amplitudę sygnału pomiarowego, liczbę zebranych próbek...
-
Diagnostyka obiektów trudno dostępnych
PublicationPomiary, a zwłaszcza diagnostyka, obiektów trudnodostępnych są istotne ze względów ekonomicznych oraz względów bezpieczeństwa. Ze względów technicznych rodzą częstokroć szereg problemów, które należy rozwiązać. Niniejszy artykuł przedstawia zarówno specyfikę obiektów trudno dostępnych, najczęściej występujące problemy związane z pomiarami takich obiektów jak też stosowane metody pomiaru i przekazywania danych pomiarowych.
Year 2005
-
Analizator do spektroskopii wysokoimpedancyjnej powłok antykorozyjnych
PublicationW pracy przedstawiono analizator do spektroskopii wysokoimpedancyjnej, w którym zastosowano sondę wejściową umożliwiającą pomiary impedancji do |Zx|<100Gohm w szerokim zakresie częstotliwości od 10uHz-1MHz. Opracowano metodę pomiaru impedancji opartą na próbkowaniu sygnałów oraz wyznaczaniu ich parametrów za pomocą algorytmów cyfrowego przetwarzania sygnałów. W pracy omówiono rozwiązania układowe i programistyczne, zastosowane...
-
The influence of parameters of input probe on the error of high impedance measurement
PublicationW artykule przedstawiono sondę do pomiaru wysokich impedancji w zakresie 1kohm<|Zx|<100Gohm przeznaczoną do dołączenia do analizatorów typu gain-phase. Przeanalizowano wpływ parametrów sondy (pojemności pasożytnicze, toleranca rezystorów określających wzmocnienie wzmacniacza) na dokładność wyznaczenia modułu i argumentu zespolonego stosunku sygnałów wydzielonych w sondzie. Zamieszczono wyniki symulacji i pomiarów, pozwalające na...
-
Wirtualny analizator stanów logicznych na bazie układu typu "System on a Chip"
PublicationW dobie dominacji układów cyfrowych, jednym z ważniejszych narzędzi uruchomieniowych jest analizator stanów logicznych (ASL). Komercyjne przyrządy nie są tanie, choć ich możliwości diagnostyczne uzasadniają cenę. W artykule przedstawiono ASL w konwencji przyrządu wirtualnego połączonego z PC poprzez interfejs USB, co obniża koszt urządzenia bez znaczącego pogorszenia jego możliwości. Wykorzystano układ typu SoC "System on a Chip"...
Year 2004
-
Analizator do spektroskopii wysokoimpedancyjnej obiektów technicznych modelowanych obwodami elektrycznymi.
PublicationW pracy przedstawiono prototyp analizatora do spektroskopii wysokoimpedancyjnej przeznaczonego do diagnostyki powłok antykorozyjnych w warunkach laboratoryjnych oraz terenowych. Obiekt mierzony o module impedancji do 100Gohm jest dołączany do analizatora za pomocą sondy pomiarowej dwuzaciskowej dla obiektów uziemionych lub trzyzaciskowej w przypadku obiektów nieuziemionych. W sondzie są wydzielane dwa sygnały proporcjonalne do...
-
The Goertzel filter-bank usage in the non-stationary impedance measurement.
PublicationArtykuł prezentuje metodę pomiaru parametrów impedancyjnych w warunkach niestacjonarnych bazującą na próbkowaniu sygnałów pomiarowych i przetwarzaniu cyfrowym. Zaproponowano i przeanalizowano zastosowanie banku filtrów Goertzela. Porównano zaproponowane podejście z tradycyjnie stosowaną metodą STDFT. Przedstawiono wynik symulacji i pomiarów.
-
The high impedance measuring probe for gain-phase analysers.
PublicationAutorzy opracowali tanią sondę pomiarową przeznaczoną do pracy z analizatorami gain-phase jak Solartron 1260 Impedance/Gain-phase Analyser, 1255 Frequency Response Analyser (FRA) lub starszymi wersjami 1250, 1253. Przedstawiona architektura sondy wyznacza jej parametry metrologiczne. Pomiary możliwe są w 8 zakresach obejmujących wartości 100ohm<|Zx|<100Gohm w szerokim zakresie częstotliwości 10uHz-1MHz. Obwód wejściowy sondy pozwala...
-
The influence of sampling parameters on accuracy of capacitance measurement in the method based on DSP.
PublicationW artykule przedstawiono metodę pomiaru parametrów impedancyjnych bazującą na próbkowaniu sygnałów pomiarowych i DSP. Przeanalizowano wpływ głównych źródeł niepewności i błędów na dokładność pomiaru pojemności. Zawarto analizę dla następujących parametrów: niesynchroniczne próbkowanie sygnałów pomiarowych (napięciowego i prądowego), rozdzielczość przetwornika a/c i ilość zbieranych próbek. Załączono wyniki symulacji.
-
Zastosowanie sondy wejściowej w komputerowym systemie pomiarowymdo spektroskopii wysokoimpedancyjnej.
PublicationW pracy przedstawiono komputerowy system pomiarowy do spektroskopii wysokoimpedancyjnej, w którym zastosowano sondę wejściową umożliwiającą pomiary impedancji do |Zx|<100Gohm w szerokim zakresie częstotliwości od 10uHz do 100kHz. Przeanalizowano wpływ głównych źródeł niepewności na dokładność wyznaczenia modułu i argumentu zespolonego stosunku sygnałów wydzielanych w sondzie. Podano wyniki symulacji komputerowych, które pozwoliły...
Year 2003
-
Metody i mikrosystemy pomiarowe impedancji do diagnostyki grubowarstwowychpowłok antykorozyjnych.**2003, 104 s. 90 rys. 18 tab. bibliogr. 106 poz. Rozprawa doktorska (04.03.2003 r.), Wydz. ETI. Promotor: prof. dr inż. R. Zielonko.
PublicationPraca jest rozprawą doktorską, której celem było opracowanie nowych metodpomiarowych i procedur diagnostycznych powłok antykorozyjnych, zwłaszczagrubowarstwowych, drogą identyfikacji parametrów impedancyjnych ich modeli(układów zastępczych), nadających się do realizacji praktycznej w mikrosys-temach pomiarowych przeznaczonych do pracy w terenie oraz realizacja przyk-ładowego mikrosystemu pomiarowo-diagnostycznego powłok...
-
Microsystem for measurement of impedance sensors parameters.Optoelectronic and electronic sensors V.
PublicationW artykule przedstawiono mikrosystem do pomiaru parametrów impedancyjnych czujników o module impedancji z przedziału 100ohm-1Gohm. Zastosowana w mikrosystemie technika cyfrowego przetwarzania sygnałów, pozwoliła na uzyskanie szerokiego zakresu częstotliwości pomiarowych, zwłaszcza bardzo niskich od 100uHz do 1MHz, przy zachowaniu prostej konstrukcji zapewniającej jego niską cenę. Mikrosystem zrealizowano w formie przyrządu...
-
New method using bilinear transformation for parameter identification ofanticorossion coatings.
PublicationArtykuł przedstawia nową metodę diagnostyki powłok antykorozyjnych z wykorzystaniem przekształcenia biliniowego. Możliwa jest identyfikacja parametrów schematu zastępczego powłoki na podstawie pomiaru impedancji obiektu na kilku, optymalnie dobranych częstotliwościach pomiarowych. Podano zasady doboru optymalnych częstotliwości pomiarowych. Ich liczba jest równa liczbie elementów schematu zastępczego. Opracowany algorytm identyfikacji...
-
On the use of bilinear transformation for parameter identification of anticorrosion coatings
PublicationW artykule przedstawiono metodę identyfikacji parametrów powłok antykorozyjnych modelowanych wieloelementowymi układami zastępczymi. Metoda wykorzystuje właściwości przekształcenia biliniowego, które umożliwia przedstawienie funkcji układowej wieloparametrowego modelu jako funkcji każdego indywidualnego parametru. Odwrotne przekształcenie biliniowe pozwala na wyznaczenie wartości każdego z parametrów modelu z osobna na podstawie...
-
Pomiary impendancji w warunkach ekstremalnych
PublicationW artykule zaprezentowano wybrane zagadnienia pomiaru impedancji w warunkach ekstremalnych. Jako takie należy rozumieć bardzo niskie lub bardzo wysokie wartości modułu impedancji, dużą dysproporcję składowych impedancji lub złożony schemat zastępczy, w którym wpływ elementów poszukiwanych jest maskowany przez inne pasożytnicze elementy. Omówiono rozwiązania sprzętowe jak też metody i algorytmy pomiarowe.
-
Stanowisko laboratoryjne do badania transmisji DMA oparte na procesorze SHARC.
PublicationReferat przedstawia stanowisko w Laboratorium ''Integracja Sprzętu i Oprogramowania'', zapoznające studentów z cechami transmisji DMA w wersji zbliżonejdo tej z komputera IBM XT. Stanowisko oparto na zestawie uruchomieniowym''EZ-KIT Lite'' z procesorem sygnałowym ADSP-21061 z rodziny SHARC firmy Analog Devices. Zastosowane algorytmy i rozwiązania mają charakter ogólny i mogą być realizowane w zbliżonej formie również na...
-
Virtual instrument using bilinear transformation for parameter identification of high impedance objects.
PublicationArtykuł przedstawia przyrząd wirtualny do pomiaru parametrów obiektów wysokoimpedancyjnych (/Zx/<10GOhm). Opracowano metodę identyfikacji elementów składowych dwójników wieloelementowych opartą na przekształceniu biliniowym.Metoda jest predestynowana do identyfikacji parametrów różnych powłok antykorozyjnych. Dla identyfikacji konieczne są wektorowe pomiary impedancji obiektu na kilku wybranych częstotliwościach, których liczba...
Year 2002
-
Measurement microsystem for high impedance spectroscopy of anticorrosion coatings
PublicationW artykule przedstawiono mikrosystem do pomiarów bardzo dużych impedancji ukierunkowany na identyfikację parametrów powłok antykorozyjnych metodą spektroskopii impedancyjnej. Do wyznaczania składowych ortogonalnych sygnałów pomiarowych zastosowano w nim technikę cyfrowego przetwarzania sygnałów. Pozwoliła ona na uzyskanie szerokiego zakresu częstotliwości pomiarowych, zwłaszcza bardzo niskich, od ćHz, przy zachowaniu prostej konstrukcji...
seen 3427 times