A self-testing method of large analog circuits in electronic embedded systems

Zbigniew Czaja

doi:10.1088/1742-6596/238/1/012013

A self-testing method of large analog circuits in electronic embedded systems

Abstract

Przedstawiono metodę samotestowania filtrów wyższych rzędów składających się z łańcucha pierwszego lub drugiego rzędu filtrów (bloków) zaimplementowanych w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami lub procesorami sygnałowymi.Idea metody bazuje na fakcie, iż odpowiedź danego bloku jest traktowana jako sygnał pobudzenia kolejnego bloku. Dzięki temu rozwiązaniu rekonfigurowalny układ BIST składa się wyłącznie z wewnętrznych zasobów sprzętowych mikrokontrolera sterującego systemem.

Citations

0

CrossRef
0

Web of Science
0

Scopus

Author (1)

Zbigniew Czaja dr hab. inż.

Cite as

Full text

full text is not available in portal

full content of the article see on external site open in new tab

Keywords

Details

Category:: Conference activity
Type:: publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Title of issue:: Journal of Physics: Conference Series
Language:: English
Publication year:: 2010
Bibliographic description:: Czaja Z.: A self-testing method of large analog circuits in electronic embedded systems// Journal of Physics: Conference Series/ ed. ed. Sanowar H. Khan, Institute of Pysics, London. London, United Kingdom: IOP Publishing, 2010,
DOI:: Digital Object Identifier (open in new tab) 10.1088/1742-6596/238/1/012013
Verified by:: Gdańsk University of Technology