A self-testing method of large analog circuits in electronic embedded systems - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

A self-testing method of large analog circuits in electronic embedded systems

Abstrakt

Przedstawiono metodę samotestowania filtrów wyższych rzędów składających się z łańcucha pierwszego lub drugiego rzędu filtrów (bloków) zaimplementowanych w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami lub procesorami sygnałowymi.Idea metody bazuje na fakcie, iż odpowiedź danego bloku jest traktowana jako sygnał pobudzenia kolejnego bloku. Dzięki temu rozwiązaniu rekonfigurowalny układ BIST składa się wyłącznie z wewnętrznych zasobów sprzętowych mikrokontrolera sterującego systemem.

Cytowania

  • 0

    CrossRef

  • 0

    Web of Science

  • 0

    Scopus

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Aktywność konferencyjna
Typ:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Tytuł wydania:
Journal of Physics: Conference Series
Język:
angielski
Rok wydania:
2010
Opis bibliograficzny:
Czaja Z.: A self-testing method of large analog circuits in electronic embedded systems// Journal of Physics: Conference Series/ ed. ed. Sanowar H. Khan, Institute of Pysics, London. London, United Kingdom: IOP Publishing, 2010,
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1088/1742-6596/238/1/012013
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 6 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi