Wyszukiwarka
Abstrakt
Przedstawiono metodę samotestowania filtrów wyższych rzędów składających się z łańcucha pierwszego lub drugiego rzędu filtrów (bloków) zaimplementowanych w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami lub procesorami sygnałowymi.Idea metody bazuje na fakcie, iż odpowiedź danego bloku jest traktowana jako sygnał pobudzenia kolejnego bloku. Dzięki temu rozwiązaniu rekonfigurowalny układ BIST składa się wyłącznie z wewnętrznych zasobów sprzętowych mikrokontrolera sterującego systemem.
Cytowania
-
0
CrossRef
-
0
Web of Science
-
0
Scopus
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Tytuł wydania:
- Journal of Physics: Conference Series
- Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2010
- Opis bibliograficzny:
- Czaja Z.: A self-testing method of large analog circuits in electronic embedded systems// Journal of Physics: Conference Series/ ed. ed. Sanowar H. Khan, Institute of Pysics, London. London, United Kingdom: IOP Publishing, 2010,
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1088/1742-6596/238/1/012013
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 50 razy