Search
Abstract
Przedstawiono oscylacyjny tester wbudowany (OBIT) do testowania części analogowej elektronicznego układu mieszanego sygnałowo zmontowanego na pakiecie. W celu zwiększenia współczynnika pokrycia uszkodzeń, w testerze zastosowano pomiary w dziedzinie czasu i częstotliwości. Omówiono wybrane aspekty implementacji testera, w szczególności problem transformacji układu testowanego w oscylator. Przeprowadzono analizę stanu ustalonego struktury oscylatora testującego z pętlą automatycznej regulacji wzmocnienia (ARW).
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Language:
- English
- Publication year:
- 2006
- Bibliographic description:
- Toczek W.: An oscillation-based built-in test scheme with AGC loop. // Measurement. Article in Press, Corrected Proof [online].. -., (2006),
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 51 times