Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów - Publication - Bridge of Knowledge

Search

Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów

Abstract

W artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera. Następnie mikrokontroler wykonuje detekcję i lokalizację uszkodzeń opierając się na algorytmie bazującym na słowniku uszkodzeń, wygenerowanym na podstawie rodziny pasów lokalizacyjnych opisującej właściwości układu badanego.

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:
Articles
Type:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Published in:
Measurement Automation Monitoring no. 53, pages 731 - 734,
ISSN: 2450-2855
Language:
Polish
Publication year:
2007
Bibliographic description:
Czaja Z.: Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów// Pomiary Automatyka Kontrola. -Vol. 53., nr. nr 9 bis (2007), s.731-734
Verified by:
Gdańsk University of Technology

seen 62 times

Recommended for you

Meta Tags