Search
Filters
total: 43
Search results for: BIST
-
Tester wbudowany BIST dla mieszanych sygnałowo pakietów elektronicznych
PublicationZaproponowano oszczędne i nieinwazyjne rozwiązanie testera wbudowanego BIST dla w pełni różnicowej części analogowej układu mieszanego sygnałowo. Wymienione cechy testera osiągnięto wykorzystując właściwości nowo opracowanych wzmacniaczy operacyjnych z wewnętrznym sprzężeniem zwrotnym dla sygnału wspólnego oraz modyfikując dotychczas stosowaną metodę testowania.
-
Testery wbudowane (BIST) układów analogowych i mieszanych sygnałowo
PublicationOmówiono metody realizacji w technice analogowej i cyfrowej wbudowanych źródeł sygnałów testujących. Zaprezentowano sposoby analizy odpowiedzi: metodę histogramową, cyfrowego przetwarzania sygnałów oraz wykorzystanie koncepcji "macierzy z sumą kontrolną". Przedstawiono metodę testowania oscylacyjnego oraz DACBIST przeznaczony do testowania przetworników C/A, łączący testowanie oscylacyjne z techniką modulacji sigma-delta.
-
Demonstrator testera wbudowanego BIST dla układów w pełni różnicowych
PublicationPrzedstawiono demonstrator testera wbudowanego, przeznaczony do pracy na stanowisku dydaktycznym w laboratorium z przedmiotu Zaawansowane Metody Pomiarowe i Diagnostyczne. Na stanowisku studenci zapoznają się z technologią BIST (ang. Built-In Self-Test), która jest przykładem wdrożenia strategii projektowania dla testowania.
-
Teoretyczne i praktyczne aspekty zastosowania modulatora sigma-delta w testerze wbudowanym BIST
PublicationPrzedstawiono teoretyczne i praktyczne aspekty zastosowania modulatora sigma-delta w testerze wbudowanym BIST, przeznaczonym do diagnostyki mieszanych sygnałowo pakietów elektronicznych. Omówiono podstawowe parametry modulatorów. Przeprowadzono dyskusję możliwych wariantów wyboru rodzaju, parametrów, architektury oraz technologii wykonania modulatora sigma-delta. Opracowano behawioralny model modulatora drugiego rzędu o własciwościach...
-
Chemical composition of edible aerial parts of meadow bistort (Persicaria bistorta (L.) Samp.)
Publication -
Structural Analysis of 3,5-Bistrifluoromethylhydrocinnamic Acid
Publication -
Bistatic passive radar simulator with spatial filtering subsystem
Publication -
The Doppler effect in a bistatic system for determining the position of moving targets
PublicationThe article presents the theoretical analysis and the results of numerical calculations of the Doppler effect it occurs in a system designed to determine the position and speed of a moving target. The transmitter is the source of the signal and it emits a sinusoidal, acoustic and continuous wave. Signal reflected off a moving target is received by four hydrophones. Based on the signals, four Doppler shifts are determined and inserted...
-
NK1 receptor binding of a few low molecular weight 3,5-bistrifluoromethylbenzene derivatives
Publication -
Bistability in a One-Dimensional Model of a TwoPredators-One-Prey Population Dynamics System
Publication -
Bistability in a One-Dimensional Model of a Two-Predators-One-Prey Population Dynamics System
PublicationIn this paper, we study a classical two-predators-one-prey model. The classical model described by a system of three ordinary differential equations can be reduced to a one-dimensional bimodalmap. We prove that this map has at most two stable periodic orbits. Besides, we describe the bifurcation structure of the map. Finally, we describe a mechanism that leads to bistable regimes. Taking this mechanism into account, one can easily...
-
Phytochemical analysis of aerial parts of Persicaria bistorta (L.) Samp. and the evaluation of the anti-inflammatory potential of rare malonylated flavonols
Publication -
Electrochemical oscillations and bistability during anodic dissolution of vanadium electrode in acidic media—part I. Experiment
Publication -
Electrochemical oscillations and bistability during anodic dissolution of vanadium elektrode in acidic media. part 1. Experiment
PublicationDynamiczne niestabilności, oscylacje prądowe i bistabilność obserwowane były podczas anodowego roztwarzania elektrody wanadowej w trakcie badań wykorzystujących techniki stało i zmienno prądowe. Analizowany był wpływ warunków eksperymentalnych jak: stężenia kwasu, temperatury itd. Badania pozwoliły stworzyć diagramy przedstawiające regiony występowania oscylacji i bistabilności.
-
Functional phase bistability in a nanocrystalline RbMn[Fe(CN)6] thin film fabricated by matrix-assisted laser evaporation
PublicationOne of the main barriers hindering applications of Prussian blue metal assemblies is their poor processability, which makes the fabrication of intact thin films very difficult. In this work, a nanocrystalline RbMn[Fe(CN)6]·xH2O film on silicon substrate was obtained for the first time via laser-stimulated deposition and investigated. Temperature-induced phase transition and bistability within broad hysteresis loop (120 K), along...
-
Design and implementation of an illumination system to mimic skyglow at ecosystem level in a large‐scale lake enclosure facility
PublicationLight pollution is an environmental stressor of global extent that is growing exponentially in area and intensity. Artificial skyglow, a form of light pollution with large range, is hypothesized to have environmental impact at ecosystem level. However, testing the impact of skyglow at large scales and in a controlled fashion under in situ conditions has remained elusive so far. Here we present the first experimental setup to mimic...
-
Using an IEEE1149.1 Test Bus for Fault Diagnosis of Analog Parts of Electronic Embedded Systems
PublicationThe new solution of a BIST called the JTAG BIST for self-testing of analog parts of electronic embedded systems is presented in the paper. The JTAG BIST consists of the BCT8244A and SCANSTA476 integrated circuits of Texas Instruments controlled via the IEEE 1149.1 bus. The BCT8244A is a scan test device with octal buffers, and the SCANSTA476 is a 12-bit ADC with 8 analog input channels. Self-testing approach is based on the fault...
-
Diagnosis of fully differential circuits based on a fault dictionary implemented in the microcontroller systems
PublicationPrzedstawiono nową koncepcję testera wbudowanego bist przeznaczonego do diagnostyki w pełni różnicowych układów analogowych implementowanych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo. w trakcie testowania mierzona jest amplituda i faza wyjściowego napięcia różnicowego. procedura detekcji i lokalizacji uszkodzeń bazuje na słowniku uszkodzeń przechowywanym w pamięci programu mikrokontrolera. korzystną cechą przestrzeni pomiarowej wyznaczonej...
-
An idea of an approach to self-testing of mixed signal systems based on a quadratic function stimulation
PublicationA new approach to self-testing of the analog parts of mixed-signal electronic systems controlled by microcontrollers equipped with an ADC and a DAC is presented. It is based on a BIST and a new fault diagnosis method. A novelty is the use of the DAC as a component of the BIST, allowing to generate a stimulating signal with a quadratic function shape. It contributes to a better extraction of information about the state of the circuit...
-
Application of Complementary Signals in Built-In Self Testers for Mixed-Signal Embedded Electronic Systems
PublicationThis paper concerns the implementation of shape-designed complementary signals (CSs), matched to the frequency characteristic of the circuit under test, in built-in self testers (BISTs), dedicated to mixed-signal embedded electronic systems for testing their analog sections. The essence of the proposed method and solution of CS BIST is low-cost realization on the base of hardware and software resources of microcontrollers used...
-
Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1
PublicationPrzedstawiono nową koncepcję testera JTAG BIST do samo-testowania torów analogowych opartych na wielosekcyjnych filtrach wyższego rzędu w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na metodzie diagnostycznej opartej na przekształce-niu transformującym próbki odpowiedzi czasowych kolejnych sekcji filtra pobudzonego impulsem...
-
Lokalizacja uszkodzeń w układach mieszanych-sygnałowo metodą sygnaturową
PublicationPrzedstawiono metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń w układach mieszanych-sygnałowo przeznaczoną do implementacji w testerach wbudowanych BIST wraz z algorytmem doboru jego optymalnych parametrów układowych.
-
Built-in Test Scheme for detection, classification and evaluation of nonlinearities
PublicationW artykule przedstawiono koncepcję testera wbudowanego (BIST) przeznaczonego do detekcji nieliniowości, klasyfikacji rodzaju nieliniowości i oceny zniekształceń nieliniowych sygnału testowanego, bez użycia drogiego systemu automatycznego testowania. Tester bazuje na modulatorze sigma-delta umieszczonym na pakiecie testowanym i sztucznej sieci neuronowej zaimplementowanej w komputerze osobistym. Koncepcję testera zweryfikowano poprzerz...
-
Metoda diagnostyki uszkodzeń parametrycznych w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych.
PublicationZaproponowano nowe podejście samo-testowania sieci analogowych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami oparte na zmodyfikowanej metodzie 2D. Cechuje się ono prostymi i łatwymi w implementacji algorytmami diagnostycznymi, które z powodzeniem można zaimplementować w prostych, powszechnie stosowanych mikrokontrolerach z interfejsem SPI oraz nie wymaga nadmiernej rozbudowy mikrosystemu o część testującą...
-
Wojciech Toczek dr hab. inż.
People -
A self-testing method of large analog circuits in electronic embedded systems
PublicationPrzedstawiono metodę samotestowania filtrów wyższych rzędów składających się z łańcucha pierwszego lub drugiego rzędu filtrów (bloków) zaimplementowanych w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami lub procesorami sygnałowymi.Idea metody bazuje na fakcie, iż odpowiedź danego bloku jest traktowana jako sygnał pobudzenia kolejnego bloku. Dzięki temu rozwiązaniu rekonfigurowalny układ...
-
A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus
PublicationA new solution of the JTAG BIST for testing analog circuits in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers and equipped with the IEEE1149.1 bus is presented. It is based on a new fault diagnosis method in which an analog circuit is stimulated by a buffered signal from the TMS line, and the time response of the circuit to this signal is sampled by the ADC equipped with the JTAG. The method can be used for...
-
A solution of the integrated µBIST for functional and diagnostic testing in mixed-signal electronic embedded systems
PublicationMain problem of the paper is testing of analog circuits and blocks in mixed-signal electronic embedded systems (EESs), using the built-in self-test (BIST) technique. The integrated mBIST based on reusing signal blocks already present in an EES, such as processors, memories, ADCs, is presented. The novelty of the solution is the extended functionality of the mBIST. It can perform 2 testing functions: functional testing and fault...
-
Implementacja zmodyfikowanej metody biliniowej 2D w elektronicznym systemie wbudowanym
PublicationPrzedstawiono implementację zmodyfikowanej metody biliniowej 2D diagnostyki sieci analogowych we wbudowanych mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami. Metoda cechuje się prostym algorytmem diagnostycznym, który z powodzeniem można zaimplementować w 8-bitowych, powszechnie stosowanych mikrokontrolerach z interfejsem SPI, oraz nie wymaga nadmiernej rozbudowy mikrosystemu o część testującą (BIST). Zaletą metody...
-
Metody projektowania ułatwiającego testowanie dla układów cyfrowych
PublicationPrzedstawiono przegląd metod ułatwiających testowanie DFT (Design for Testability) dla układów cyfrowych. Zaprezentowano metody stosowane na poziomie układów scalonych, pakietów oraz systemów elektronicznych. Pokazano heurystyczne metody projektowania pozwalające na zwiększenie sterowalności i obserwowalności układów oraz metody strukturalne, a wśród nich układy BILBO (Built-In Logic Block Observer), BIST (Built-In Self Test),...
-
Two‐functional μBIST for Testing and Self‐Diagnosis of Analog Circuits in Electronic Embedded Systems
PublicationThe paper concerns the testing of analog circuits and blocks in mixed‐signal Electronic Embedded Systems (EESs), using the Built‐in Self‐Test (BIST) technique. An integrated, two‐functional, embedded microtester (μBIST) based on reuse of signal blocks already present in an EES, such as microprocessors, memories, ADCs, DACs, is presented. The novelty of the μBIST solution is its extended functionality. It can perform 2 testing functions:...
-
Detekcja uszkodzeń w analogowych układach w pełni różnicowych.
PublicationPrzedmiotem pracy jest detekcja uszkodzeń w analogowych układach elektronicznych o architekturze w pełni różnicowej, cechującej się strukturalną redundancją ułatwiającą testowanie i diagnostykę. W oparciu o model matematyczny układów w pełni różnicowych, usystematyzowano metody ich testowania. Wykazano, że dotychczas stosowane metody są kosztowne w odniesieniu do układów ze wzmacniaczami operacyjnymi, w których zastosowano sprzężenie...
-
Testing method of analog parts for mixed signal microsystems based on microcontrolles.
PublicationZaproponowano nową metodę detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych, która może znaleźć zastosowanie do samo-testowania sieci analogowych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami. Metoda ta jest oparta na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne na płaszczyźnie. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację...
-
Specjalizowane sieci neuronowe z Dwucentrowymi Funkcjami Bazowymi do zastosowań w testerach wbudowanych μBIST
PublicationPrzedmiotem artykułu są nowe, przydatne do zastosowań w testerach wbudowanych BIST, specjalizowane sieci neuronowe do lokalizacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych, o podwyższonej odporności na maskujący wpływ rozrzutów tolerancyjnych elementów nieuszkodzonych. Sieci opracowane zostały w dwóch wariantach: z Dwucentrowymi Radialnymi (DRB) oraz Elipsoidalnymi (DEB) funkcjami Bazowymi. Dzięki wydłużonym...
-
Odporne na wpływ tolerancji, słownikowe metody diagnostyki uszkodzeń układów elektronicznych ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym
PublicationW pracy przedstawiono nową klasę słownikowych metod diagnostyki uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych, ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu. Wykorzystano koncepcję polegającą na konstrukcji sygnatur słownika uszkodzeń w postaci krzywych identyfikacyjnych i zastosowaniu klasyfikatorów neuronowych dobrze dopasowanych do tych sygnatur. W pierwszej...
-
Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na klasyfikato-rach neuronowych z dwucentrowymi funkcjami bazowymi
PublicationPrzedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do lokalizacji uszkodzeń w wielosekcyjnych torach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerem. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz metody detekcji i lokalizacji uszkodzeń toru analogowego z wykorzysta-niem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera....
-
18th European Symposium on Radiopharmacy and Radiopharmaceuticals
Publication -
Using a square-wave signal for fault diagnosis of analog parts of mixed-signal electronic embedded systems
PublicationArtykuł przedstawia nowe podejście do detekcji i lokalizacji pojedynczych katastroficznych i parametrycznych uszkodzeń części analogowych w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych. Podejście składa się z trzech etapów: tworzenia słownika uszkodzeń na podstawie krzywych identyfikacyjnych, etapu pomiarowego w którym układ badany pobudzany jest falą prostokątną generowaną przez mikrokontroler a odpowiedź jest próbkowana...
-
Diagnostyka uszkodzeń analogowych we wbudowanych systemach elektronicznych z wykorzystaniem interpretera logiki rozmytej
PublicationPrzedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego w systemie wbudowanym sterowanym mikrokontrolerem. Podejście to bazuje na metodzie detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych elementów pasywnych w układach analogowych. W etapie pomiarowym badany tor analogowy pobudzany jest okresowym przebiegiem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez...
-
Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
PublicationW artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny...
-
Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych
PublicationW pracy przedstawiono nowe podejście zastosowania modelowania rozmytego do diagnostyki uszkodzeń części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych mieszanych sygnałowo przy wykorzystaniu środków programowych i sprzętowych mikrokontrolera sterującego systemem. Zaprezentowano sposób tworzenia słownika uszkodzeń, najważniejsze parametry rozmytych modeli detekcji i lokalizacji uszkodzeń oraz opis działania programowego procesora...
-
Internetowa telediagnostyka urządzeń w obsłudze serwisowej.
PublicationPrzedstawiono system diagnostyczny do zdalnego testowania i lokalizowania uszkodzeń w elektronicznych podzespołach urządzeń powszechnego użytku. System składa się ze stanowiska doświadczalnego do konfigurowania i weryfikowania procedur diagnostycznych oraz prototypowego układu testera wbudowanego z dostępem internetowym. Zdalna diagnostyka jest rozpatrywana w aspekcie obsługi posprzedażnej w systemach CRM.
-
Strategie testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych
PublicationPraca dotyczy testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych metodami zorientowanymi na uszkodzenia. Omówiono źródła i klasyfikację uszkodzeń, strategie testowania wykorzystujące nadmiarowość analityczną i sprzętową, wewnątrzobwodowe testowanie pakietów elektronicznych oraz zastosowanie algorytmów klasyfikacji obrazów do lokalizacji uszkodzeń. Wynikiem prac w zakresie metod analitycznych jest opracowanie przyspieszonej...