Search
Abstract
Zaproponowano nowe podejście samo-testowania sieci analogowych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami oparte na zmodyfikowanej metodzie 2D. Cechuje się ono prostymi i łatwymi w implementacji algorytmami diagnostycznymi, które z powodzeniem można zaimplementować w prostych, powszechnie stosowanych mikrokontrolerach z interfejsem SPI oraz nie wymaga nadmiernej rozbudowy mikrosystemu o część testującą (BIST). Zaletą metody jest możliwość nie tylko detekcji uszkodzenia parametrycznego obwodu analogowego, ale również lokalizacja pojedynczych uszkodzeń parametrycznych przy założeniu tolerancji elementów nieuszkodzonych. W pracy opisano przykładową aplikację układu BIST dla mikrosystemu opartego na mikrokontrolerze Atmega16, sposób tworzenia słownika uszkodzeń i procedury samo-testujące.
Author (1)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Conference activity
- Type:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Language:
- Polish
- Publication year:
- 2004
- Bibliographic description:
- Czaja Z.: Metoda diagnostyki uszkodzeń parametrycznych w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych.// / : , 2004,
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 124 times