Search
Diagnosis of fully differential circuits based on a fault dictionary implemented in the microcontroller systems
Abstract
Przedstawiono nową koncepcję testera wbudowanego bist przeznaczonego do diagnostyki w pełni różnicowych układów analogowych implementowanych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo. w trakcie testowania mierzona jest amplituda i faza wyjściowego napięcia różnicowego. procedura detekcji i lokalizacji uszkodzeń bazuje na słowniku uszkodzeń przechowywanym w pamięci programu mikrokontrolera. korzystną cechą przestrzeni pomiarowej wyznaczonej przez amplitudę i fazę jest kształt trajektorii sygnatur uszkodzeń. we współrzednych biegunowych trajektorie mają kształt fragmentów linii prostej lub okręgu o prostym opisie analitycznym. fakt ten implikuje bardzo zwartą formę słownika. bist może być realizowany na bazie własnych zasobów testowanego systemu.
Citations
-
8
CrossRef
-
0
Web of Science
-
1 5
Scopus
Authors (2)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Published in:
-
MICROELECTRONICS RELIABILITY
pages 1413 - 1421,
ISSN: 0026-2714 - Language:
- English
- Publication year:
- 2011
- Bibliographic description:
- Toczek W., Czaja Z.: Diagnosis of fully differential circuits based on a fault dictionary implemented in the microcontroller systems// MICROELECTRONICS RELIABILITY. -, (2011), s.1413-1421
- DOI:
- Digital Object Identifier (open in new tab) 10.1016/j.microrel.2011.02.022
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 88 times