Search
Abstract
Przedstawiono przegląd metod ułatwiających testowanie DFT (Design for Testability) dla układów cyfrowych. Zaprezentowano metody stosowane na poziomie układów scalonych, pakietów oraz systemów elektronicznych. Pokazano heurystyczne metody projektowania pozwalające na zwiększenie sterowalności i obserwowalności układów oraz metody strukturalne, a wśród nich układy BILBO (Built-In Logic Block Observer), BIST (Built-In Self Test), ścieżkę sterująco-obserwacyjną oraz magistralę ułatwionego testowania IEEE 1149.1. Przedyskutowano zalety i wady poszczególnych metod oraz perspektywy ich praktycznych zastosowań.
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Language:
- Polish
- Publication year:
- 2005
- Bibliographic description:
- Bartosiński B.: Metody projektowania ułatwiającego testowanie dla układów cyfrowych// . -., (2005),
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 97 times