Abstract
Przedstawiono światłowodowy system dwuwymiarowej wizualizacjiniejednorodnych struktur warstw ceramicznych. Omówiono projekti fizyczną realizację układu wykorzystującego optyczną, niskokoherentną reflektometrię optyczną, która umożliwia nieinwazyjne i bezkontaktowe obrazowanie wewnętrznych struktur różnych materiałówsilnie rozpraszających promieniowanie. Przedstawiono przykładowewyniki pomiarów wewnętrznych warstw ceramiki LSFO. Dodatkowo przeanalizowano możliwości poprawy rozdzielczości pomiaru systemuOCT przez zastosowanie syntezowanych źródeł promieniowania.
Authors (4)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
no. R. 48,
pages 39 - 42,
ISSN: 0033-2089 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2007
- Bibliographic description:
- Jędrzejewska-Szczerska M., Strąkowski M., Hypszer R., Kosmowski B.: Niskokoherentny, interferometryczny system do badaniawłaściwości materiałów ceramicznych// Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. -Vol. R. 48., nr. nr 3 (2007), s.39-42
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 103 times