Wyszukiwarka
Abstrakt
Przedstawiono światłowodowy system dwuwymiarowej wizualizacjiniejednorodnych struktur warstw ceramicznych. Omówiono projekti fizyczną realizację układu wykorzystującego optyczną, niskokoherentną reflektometrię optyczną, która umożliwia nieinwazyjne i bezkontaktowe obrazowanie wewnętrznych struktur różnych materiałówsilnie rozpraszających promieniowanie. Przedstawiono przykładowewyniki pomiarów wewnętrznych warstw ceramiki LSFO. Dodatkowo przeanalizowano możliwości poprawy rozdzielczości pomiaru systemuOCT przez zastosowanie syntezowanych źródeł promieniowania.
Autorzy (4)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
nr R. 48,
strony 39 - 42,
ISSN: 0033-2089 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2007
- Opis bibliograficzny:
- Jędrzejewska-Szczerska M., Strąkowski M., Hypszer R., Kosmowski B.: Niskokoherentny, interferometryczny system do badaniawłaściwości materiałów ceramicznych// Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. -Vol. R. 48., nr. nr 3 (2007), s.39-42
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 103 razy