Search
Abstract
Omówiono metody oceny niezawodności elementów półprzewodnikowych, w szczególności w oparciu o badania przyspieszone. Badania te powiązano ściśle z procesem technologii wytwarzania przyrządów półprzewodnikowych. Szerzej omówiono przyczyny uszkodzeń elementów półprzewodnikowych. Przedstawiono predykcję niezawodności opartą na badaniach przyspieszonych. Wskazano na coraz szersze zainteresowanie badaniami niezawodności na podstawie pomiarów poziomu szumów małoczęstotliwościowych.
Authors (2)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Elektronizacja: podzespoły i zastosowania elektroniki
pages 2 - 5,
ISSN: 0138-0826 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2003
- Bibliographic description:
- Spiralski L., Konczakowska A.: Ocena niezawodności elementów półprzewodnikowych.// Elektronizacja: podzespoły i zastosowania elektroniki. -., nr. 2 (2003), s.2-5
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 72 times