Search
Self-testing of analog parts of mixed-signal electronic microsystems based on multiple sampling of time responses
Abstract
W artykule przedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ono na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym zbiór próbek odpowiedzi czasowej układu badanego na pobudzenie impulsem prostokątnym na rodzinę krzywych identyfikacyjnych umieszczonych w przestrzeni pomiarowej. Metoda może być użyta do detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych elementów biernych układu ananlogowego. Do konwersji wyników pomiarowych do postaci wymaganej przez algorytmy detekcji i lokalizacji uszkodzeń oraz do tworzenia słownika uszkodzeń użyto zmodyfikowanych wzorów na DFT.
Author (1)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Conference activity
- Type:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Language:
- English
- Publication year:
- 2012
- Bibliographic description:
- Czaja Z.: Self-testing of analog parts of mixed-signal electronic microsystems based on multiple sampling of time responses// / : , 2012,
- Sources of funding:
-
- COST_FREE
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 27 times