Wyszukiwarka
Self-testing of analog parts of mixed-signal electronic microsystems based on multiple sampling of time responses
Abstrakt
W artykule przedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ono na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym zbiór próbek odpowiedzi czasowej układu badanego na pobudzenie impulsem prostokątnym na rodzinę krzywych identyfikacyjnych umieszczonych w przestrzeni pomiarowej. Metoda może być użyta do detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych elementów biernych układu ananlogowego. Do konwersji wyników pomiarowych do postaci wymaganej przez algorytmy detekcji i lokalizacji uszkodzeń oraz do tworzenia słownika uszkodzeń użyto zmodyfikowanych wzorów na DFT.
Autor (1)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2012
- Opis bibliograficzny:
- Czaja Z.: Self-testing of analog parts of mixed-signal electronic microsystems based on multiple sampling of time responses// / : , 2012,
- Źródła finansowania:
-
- COST_FREE
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 8 razy