Abstract
Przedstawiono dwa układy do pomiaru termicznej stałej czasowejbolometrów i warstw rezystywnych, umożliwiające pomiar wartości tego parametru w zakresie od pojedynczych milisekund do kilku sekund. Przedstawiono wyniki pomiarów termicznej stałej czasowej wybranych warstw rezystywnych wykonanych w technologii LTCC z niestechiometrycznych tlenków lantanowo-strontowo-żelazowych oraz bolometru cienkowarstwowego wykonanego w tej samej technologii. Omówiono kierunki dalszych prac.
Citations
-
1
CrossRef
-
0
Web of Science
-
2
Scopus
Author (1)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Proceedings of SPIE
no. 6348,
pages 1 - 8,
ISSN: 0277-786X - Language:
- English
- Publication year:
- 2006
- Bibliographic description:
- Wierzba P.: Setups for measurement of thermal time constant of bolometers and resistive layers// Proceedings of SPIE. -Vol. 6348., (2006), s.1-8
- DOI:
- Digital Object Identifier (open in new tab) 10.1117/12.721041
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 89 times
Recommended for you
LTCC compatible PLZT thick-films for piezoelectric devices.
- J. Juuti,
- A. Łoziński,
- S. Leppavuori
2004
Mobility measurements in oxide semiconductors
- E. Prociów,
- M. S. Łapiński,
- J. Domaradzki
- + 3 authors
2009