Search
Abstract
W artykule przedstawiono wybrane metody testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych zamontowanych na pakiecie pomiędzy układami scalonymi wyposażonymi w magistralę IEEE 1149.4. Prezentowane metody dobrano pod kątem stopnia skomplikowania układów testowanych oraz specyficznych właściwości metrologicznych magistrali, które ograniczają możliwości pomiarowe i aplikacyjność metod. Rozważono trzy typy układów testowanych: proste struktury typu ď lub T, układy wieloelementowe oraz układy wielostopniowe, dla których zastosowano, odpowiednio, metodę wykorzystującą twierdzenie Tellegena, metodę transformacji biliniowej oraz metodę przekształcenia w układy oscylujące.
Authors (2)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Metrology and Measurement Systems
no. 10,
pages 157 - 172,
ISSN: 0860-8229 - Language:
- English
- Publication year:
- 2003
- Bibliographic description:
- Bartosiński B., Toczek W.: Some methods of diagnosis of analog circuit using mixed signal test bus IEEE 1149.4// Metrology and Measurement Systems. -Vol. 10., nr. 2 (2003), s.157-172
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 45 times