Wyszukiwarka
Abstrakt
W artykule przedstawiono wybrane metody testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych zamontowanych na pakiecie pomiędzy układami scalonymi wyposażonymi w magistralę IEEE 1149.4. Prezentowane metody dobrano pod kątem stopnia skomplikowania układów testowanych oraz specyficznych właściwości metrologicznych magistrali, które ograniczają możliwości pomiarowe i aplikacyjność metod. Rozważono trzy typy układów testowanych: proste struktury typu ď lub T, układy wieloelementowe oraz układy wielostopniowe, dla których zastosowano, odpowiednio, metodę wykorzystującą twierdzenie Tellegena, metodę transformacji biliniowej oraz metodę przekształcenia w układy oscylujące.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Metrology and Measurement Systems
nr 10,
strony 157 - 172,
ISSN: 0860-8229 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2003
- Opis bibliograficzny:
- Bartosiński B., Toczek W.: Some methods of diagnosis of analog circuit using mixed signal test bus IEEE 1149.4// Metrology and Measurement Systems. -Vol. 10., nr. 2 (2003), s.157-172
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 45 razy