XAFS investigations of nitrided NbN-SiO2 sol-gel derived films

Agnieszka Witkowska; Barbara Kościelska

XAFS investigations of nitrided NbN-SiO2 sol-gel derived films

Abstract

Praca poświęcona jest wykorzystaniu analizy widm XAFS zmierzonych na krawędzi K atomów Nb do badania struktury cienkich warstw NbN-(100-x)SiO2 (x = 100, 80, 60 mol%) otrzymanych techniką zol-żel poprzez wysokotemperaturowe wygrzewanie warstw Nb2O5-SiO2 w atmosferze NH3. Otrzymana struktura filmu jest złożona z granul NbN ulokowanych w matrycy SiO2. Analiza XAFS pokazuje, że we wszystkich próbkach w lokalnym otoczeniu niobu znajduje się zarówno azot jak i tlen, przy czym wewnątrz granul dominuje uporządkowana struktura typu delta-NbN, zaś w obszarze między granulami dominują tlenki niobu i inne fazy NbN(prawdopodobnie z niższą zawartością azotu). Wyniki XAFS pozwoliły na skorelowanie grubości warstwy i stechiometrii materiału z lokalną strukturą geometryczną i elektronową jonów Nb.

Authors (2)

Agnieszka Witkowska dr hab. inż.
Barbara Kościelska prof. dr hab. inż.

Cite as

Full text

full text is not available in portal

full content of the article see on external site open in new tab

Keywords

Details

Category:: Articles
Type:: artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
Published in:: JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS no. 358,
ISSN: 0022-3093
Language:: English
Publication year:: 2012
Bibliographic description:: Witkowska A., Kościelska B.: XAFS investigations of nitrided NbN-SiO2 sol-gel derived films// JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS. -Vol. 358, nr. iss. 5 (2012),
Verified by:: Gdańsk University of Technology