XAFS investigations of nitrided NbN-SiO2 sol-gel derived films - Publication - Bridge of Knowledge

Search

XAFS investigations of nitrided NbN-SiO2 sol-gel derived films

Abstract

Praca poświęcona jest wykorzystaniu analizy widm XAFS zmierzonych na krawędzi K atomów Nb do badania struktury cienkich warstw NbN-(100-x)SiO2 (x = 100, 80, 60 mol%) otrzymanych techniką zol-żel poprzez wysokotemperaturowe wygrzewanie warstw Nb2O5-SiO2 w atmosferze NH3. Otrzymana struktura filmu jest złożona z granul NbN ulokowanych w matrycy SiO2. Analiza XAFS pokazuje, że we wszystkich próbkach w lokalnym otoczeniu niobu znajduje się zarówno azot jak i tlen, przy czym wewnątrz granul dominuje uporządkowana struktura typu delta-NbN, zaś w obszarze między granulami dominują tlenki niobu i inne fazy NbN(prawdopodobnie z niższą zawartością azotu). Wyniki XAFS pozwoliły na skorelowanie grubości warstwy i stechiometrii materiału z lokalną strukturą geometryczną i elektronową jonów Nb.

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:
Articles
Type:
artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
Published in:
JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS no. 358,
ISSN: 0022-3093
Language:
English
Publication year:
2012
Bibliographic description:
Witkowska A., Kościelska B.: XAFS investigations of nitrided NbN-SiO2 sol-gel derived films// JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS. -Vol. 358, nr. iss. 5 (2012),
Verified by:
Gdańsk University of Technology

seen 87 times

Recommended for you

Meta Tags