Search results for: CHŁODZENIE ELEMENTÓW ELEKTRONICZNYCH

• Cooling of electronic equipment by means of jets and microjets

  Publication

  • D. Mikielewicz
  • J. Mikielewicz

  - Year 2007

  W pracy przedstawiono rozwiązanie sprzężonej wymiany ciepła od uderzającej strugi cieczy oraz przewodzenia ciepła w łytce. Uzyskano proste zależności opisujące rozkład temperatur na płytce. Umożliwia to przeprowadzenie analizy wpływu różnych parametró na wymianę ciepła podczas chłodzenia urządzeń elektronicznych generujących ciepło.

• Rozpoznawanie elementów elektronicznych w obudowach SOT-23

  Publication

  • R. Kowalski
  • A. Szewczyk

  - Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej - Year 2015

  Produkowane obecnie elementy elektroniczne do montażu powierzchniowego (SMD) mają tak małe obudowy, że producenci nie są w stanie umieszczać na nich dostatecznej ilości oznaczeń umożliwiających ich jednoznaczną identyfikację. Ponadto, podobnie jak w przypadku elementów do montażu przewlekanego, w obudowie jednego typu mogą być zamknięte różne rodzaje elementów. Przykładem takiej obudowy jest obudowa SOT-23 (Small Outline Transistor)....

  Full text available to download

• Ocena jakości elementów elektronicznych na podstawie szumów 1/f.

  Publication

  • A. Konczakowska

  - Elektronizacja: podzespoły i zastosowania elektroniki - Year 2002

  We wszystkich elementach występują samoistne źródła szumów, a przebiegi szumowe są zazwyczaj traktowane jako sygnały niepożądane. Szum elementów elektronicznych może być jednak traktowany jako sygnał związany z jakością badanego elementu. Przedstawiono szumy własne elementów elektronicznych jako dwie składowe: szumy naturalne i szumy nadmiarowe. Omówiono powiązania tych składowych z jakością elementów. Przytoczono parametry...

• Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów.

  Publication

  • Z. Czaja

  - Year 2004

  Przedstawiono nowe podejście detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów. Składa się ono z dwóch etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń składający się z opisu elipsy aproksymującej obszar nominalny reprezentujący brak uszkodzeń i współczynników określających szerokość pasów lokalizacyjnych. Zaprezentowano nowy algorytm tworzenia takiej elipsy...

• Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów

  Publication

  • Z. Czaja

  - Measurement Automation Monitoring - Year 2007

  W artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny...

  Full text available to download

• Układ do pomiaru charakterystyk prądowo-napięciowych elementów elektronicznych zwłaszcza złącz półprzewodnikowych elementów elektronicznych dużej mocy

  Inventions

  • Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics

• Głowica do pomiaru temperatury elementów elektronicznych

  Inventions

  • Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics

• Mikropompa elektrohydrodynamiczna na ciecz dielektryczną zasilana napięciem stałym

  Publication

  • M. Tański
  • M. Janke
  • R. Barbucha
  • M. Kocik
  • K. Garasz
  • J. Mizeraczyk

  - Year 2011

  W niniejszym artykule zaprezentowano projekt i działanie miniaturowej pompy elektrohydrodynamicznej (EHD) zasilanej napięciem stałym przeznaczonej do chłodzenia elementów elektronicznych. Zmierzono natężenie przepływu cieczy oraz ciśnienie wytwarzane przez pracującą mikropompę. Maksymalne natężenie przepływu, 0,5 ml/min, uzyskano dla napięcia 12 kV. Zmierzone ciśnienie wyniosło 500 Pa przy przyłożonym napięciu 6 kV. Maksymalny...

• Chłodzenie materii poprzez fluorescencję antystokesowską

  Publication

  • J. Fieducik
  • J. Godlewski

  - Przegląd Elektrotechniczny - Year 2018

  nane są różne metody chłodzenia wykorzystujące procesy termodynamiczne, zjawiska termoelektryczne i magnetoelektryczne. W artykule przedstawiono możliwości chłodzenia materii poprzez fluorescencję antystokesowską materiału luminezującego oświetlanego światłem laserowym o określonej długości fali. Materiałami szczególnie korzystnymi są szkła domieszkowane metalami ziem rzadkich n.p. szkło typu ZBLAN, zawierające iterb. Układy takie...

  Full text available to download

• Janusz Smulko prof. dr hab. inż.

  People

  Department of Metrology and Optoelectronics

  He was born on April 25, 1964 in Kolno. He graduated in 1989 with honors from the Faculty of Electronics at Gdańsk University of Technology, specialising in measuring instruments. In 1989 he took second place in the Red Rose competition for the best student in the Pomerania Region. Since the beginning of his career ha has been associated with Gdańsk University of Technology: research assistant (1989-1996), Assistant Professor (1996-2012),...