Didn't find any results in this catalog!
But we have some results in other catalogs.Filters
total: 2395
-
Catalog
- Publications 1915 available results
- Journals 3 available results
- People 80 available results
- Inventions 14 available results
- Projects 15 available results
- Laboratories 9 available results
- Research Teams 15 available results
- Research Equipment 3 available results
- e-Learning Courses 287 available results
- Events 11 available results
- Open Research Data 43 available results
displaying 1000 best results Help
Search results for: NIEZAWODNOŚĆ ELEMENTÓW ELEKTRONICZNYCH
-
Rozpoznawanie elementów elektronicznych w obudowach SOT-23
PublicationProdukowane obecnie elementy elektroniczne do montażu powierzchniowego (SMD) mają tak małe obudowy, że producenci nie są w stanie umieszczać na nich dostatecznej ilości oznaczeń umożliwiających ich jednoznaczną identyfikację. Ponadto, podobnie jak w przypadku elementów do montażu przewlekanego, w obudowie jednego typu mogą być zamknięte różne rodzaje elementów. Przykładem takiej obudowy jest obudowa SOT-23 (Small Outline Transistor)....
-
Ocena jakości elementów elektronicznych na podstawie szumów 1/f.
PublicationWe wszystkich elementach występują samoistne źródła szumów, a przebiegi szumowe są zazwyczaj traktowane jako sygnały niepożądane. Szum elementów elektronicznych może być jednak traktowany jako sygnał związany z jakością badanego elementu. Przedstawiono szumy własne elementów elektronicznych jako dwie składowe: szumy naturalne i szumy nadmiarowe. Omówiono powiązania tych składowych z jakością elementów. Przytoczono parametry...
-
Cooling of electronic equipment by means of jets and microjets
PublicationW pracy przedstawiono rozwiązanie sprzężonej wymiany ciepła od uderzającej strugi cieczy oraz przewodzenia ciepła w łytce. Uzyskano proste zależności opisujące rozkład temperatur na płytce. Umożliwia to przeprowadzenie analizy wpływu różnych parametró na wymianę ciepła podczas chłodzenia urządzeń elektronicznych generujących ciepło.
-
Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów.
PublicationPrzedstawiono nowe podejście detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów. Składa się ono z dwóch etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń składający się z opisu elipsy aproksymującej obszar nominalny reprezentujący brak uszkodzeń i współczynników określających szerokość pasów lokalizacyjnych. Zaprezentowano nowy algorytm tworzenia takiej elipsy...
-
Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
PublicationW artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny...
-
Układ do pomiaru charakterystyk prądowo-napięciowych elementów elektronicznych zwłaszcza złącz półprzewodnikowych elementów elektronicznych dużej mocy
Inventions -
Głowica do pomiaru temperatury elementów elektronicznych
Inventions -
Janusz Smulko prof. dr hab. inż.
PeopleHe was born on April 25, 1964 in Kolno. He graduated in 1989 with honors from the Faculty of Electronics at Gdańsk University of Technology, specialising in measuring instruments. In 1989 he took second place in the Red Rose competition for the best student in the Pomerania Region. Since the beginning of his career ha has been associated with Gdańsk University of Technology: research assistant (1989-1996), Assistant Professor (1996-2012),...
-
Stanisław Szczepański prof. dr hab. inż.
People -
Układy Cyfrowe - projekt
e-Learning CoursesZajęcia o charakterze ćwiczeniowym związane projektowania układów cyfrowych. Metody projektowania i syntezy układów cyfrowych kombinacyjnych i sekwencyjnych synchronicznych z wykorzystaniem elementów elektronicznych o małej i średniej skali integracji.